[实用新型]用于轴承内圈轴向加载后位移量测量的装置有效

专利信息
申请号: 201520674818.1 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN204854554U 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 苏鹏;马骏 申请(专利权)人: 中国人民解放军第五七〇六工厂
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 仇蕾安;郭德忠
地址: 116038 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 用于 轴承 内圈 轴向 加载 位移 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种精密测量装置,用于测量轴承内圈轴向加载后的偏移量,适用于可旋转轴承内圈或不可旋转轴承内圈。

背景技术

轴承在使用一定周期后,安装在工件2上的轴承内圈1(图中未画出轴承外圈)会产生磨损,由于磨损量不易测量,所以提出了“内圈轴向加载xx公斤力F后测量,测量内圈轴向偏移量ΔL”这一技术指标,可以侧面反应轴承使用后的磨损量。如图1所示。

由于各类轴承中,有些轴承内圈是可以进行相对转动的,在加载时如何将内圈轴向与外圈轴向保持一致,并进行微分测量,常规测量手段和工具是不可能完成的。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供了一种用于轴承内圈轴向加载后位移量测量的装置,能够方便、快速和准确的读取轴承内圈在加载后的轴向位移量。

用于轴承内圈轴向加载后位移量测量的装置,包括基轴和微分螺帽,外围设备为工件和轴承内圈;

所述基轴的一端设有限位凸台,另一端设有拉力加载孔,在拉力加载孔后方的圆柱段上刻有与基轴轴向平行的初始刻度线,基轴的中段上加工有与微分螺帽配合的外螺纹;

所述微分螺帽的圆周面上刻有将圆周等分的等分刻度线,设微分螺帽内螺纹的螺距为s,圆周等分的份数为n,微分螺帽旋进一格,轴向位移为snmm;

所述基轴的外圆周面与轴承内圈之间为滑动配合,所述基轴限位凸台的内侧面与轴承内圈一端的端面贴合,所述微分螺帽与基轴中段上的螺纹段为螺纹配合,所述微分螺帽的底面与工件的表面接触。

进一步地,所述微分螺帽的内螺纹采用螺距1mm的螺纹,所述微分螺帽的圆周面上的等分刻度线将圆周等分为100份。

有益效果:

本实用新型只由两个零件组成,通过与工件和轴承的配合就能够实现高精度测量各类轴承的内圈在轴向加载后的轴向位移量,根据被测量的各类轴承的外形尺寸改动基轴和微分螺母的部分尺寸,即可满足相应类别标准的轴承测量需求,装置结构简单且测量结果准确可靠。

附图说明

图1为被测量的轴承轴向力加载示意图;

图2为本实用新型中基轴和微分螺帽的结构示意图;

图3为本实用新型微分螺帽的安装过程示意图;

图4为本实用新型安装完毕后的状态示意图;

图5为本实用新型进行测量时的状态示意图;

图6为本实用新型的整体结构剖视图。

其中,1-工件、2-轴承内圈、3-基轴、4-微分螺帽、5-初始刻度线。

具体实施方式

下面结合附图并举实施例,对本实用新型进行详细描述。

如附图2所示,本实用新型提供了一种用于轴承内圈轴向加载后位移量测量的装置,用于轴承内圈轴向加载后位移量测量的装置,包括基轴3和微分螺帽4,外围设备为工件1和轴承内圈2;

所述基轴3的一端设有限位凸台,另一端设有拉力加载孔,在拉力加载孔后方的圆柱段上刻有与基轴轴向平行的初始刻度线5,基轴3的中段上加工有与微分螺帽4配合的外螺纹;

所述微分螺帽4的圆周面上刻有将圆周等分的等分刻度线,微分螺帽4的内螺纹采用螺距1mm的螺纹,所述微分螺帽4的圆周面上的等分刻度线将圆周等分为100份,微分螺帽旋进一格,轴向位移为0.01mm;

如附图6所示,所述基轴3的外圆周面与轴承内圈之间为滑动配合,所述基轴3限位凸台的内侧面与轴承内圈一端的端面贴合,所述微分螺帽4与基轴3中段上的螺纹段为螺纹配合,所述微分螺帽4的底面与工件2的表面接触。

安装过程:如附图3所示,首先将基轴3穿入轴承内圈1中,将基轴3限位凸台的内侧面贴紧轴承内圈1,此时,如果轴承内圈1是可旋转式的,基轴3则也可以随内圈1进行旋转;如附图4所示,将微分螺帽旋入基轴3,微分螺帽4的底面贴工件2的表面,通过微分螺帽4径向与基轴3径向的同轴度要求及微分螺帽4底面与径向的垂直度要求,保证了此状态下轴承内圈1径向与轴承外圈(工件2上的轴承安装孔)径向的统一。

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