[实用新型]高精度光电尘埃颗粒检测装置有效
| 申请号： | 201520708658.8 | 申请日： | 2015-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN205003058U | 公开（公告）日： | 2016-01-27 |
| 发明（设计）人： | 曲敬镭;朱春灵;张建式 | 申请（专利权）人： | 宁波中物东方光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 | 代理人： | 张圆 |
| 地址： | 315100 浙江省宁波市鄞州区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 高精度 光电 尘埃 颗粒 检测 装置 | ||
1.一种高精度光电尘埃颗粒检测装置，包括照明光路、测量腔(4)、与照明光路的中心轴线垂直设置的气路系统、用于将散射光进行反射的反射镜(5)、散射光收集系统及处理器，其特征在于：所述的照明光路包括光源(1)、第一掩膜(2)及用于聚焦的第一透镜(3)，所述的射光收集系统包括第二透镜(6)、第二掩膜(7)及用于产生电脉冲的感光元件(8)，所述的第一掩膜(2)和第二掩膜(7)上开设有呈“吕”字形设置的透光通道；所述的测量腔(4)包括上下对称叠合设置的第一光敏感区域(4.1)及第二光敏感区域(4.2)，所述的第一光敏感区域(4.1)的边长小于所述的第二光敏感区域(4.2)，所述的第一光敏感区域(4.1)与第二光敏感区域(4.2)的厚度均大于最大可测量粒径，且所述的第一光敏感区域(4.1)与第二光敏感区域(4.2)之间设有间隙d。
2.根据权利要求1所述的高精度光电尘埃颗粒检测装置，其特征在于：所述的第一光敏感区域(4.1)的边长大于最大可测量粒径，且小于极限浓度下单个粒子所占据正方体空间的边长；第二光敏感区域(4.2)与第一光敏感区域(4.1)的边长之差大于最大可测量粒径的两倍。
3.根据权利要求2所述的高精度光电尘埃颗粒检测装置，其特征在于：所述的第一光敏感区域(4.1)与第二光敏感区域(4.2)的厚度以及间隙d之和小于或等于第一光敏感区域(4.1)的边长。
4.根据权利要求1所述的高精度光电尘埃颗粒检测装置，其特征在于：所述的第一光敏感区域(4.1)及第二光敏感区域(4.2)均呈平行六面体状，所述的第一光敏感区域(4.1)及第二光敏感区域(4.2)的横截面为对边分别平行的四边形。
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