[实用新型]一种用于测试PCB的治具卡条装置有效

专利信息
申请号: 201520736260.5 申请日: 2015-09-22
公开(公告)号: CN205049605U 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: 陈广;陈代树 申请(专利权)人: 竞华电子(深圳)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人: 陈健
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测试 pcb 治具卡条 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及电路板测试技术领域,尤其涉及一种用于测试PCB(PrintedCircuitBoard,印制电路板)的治具卡条装置。

背景技术

现有的用于测试PCB的治具其内一般具有七/十/十二层面板,其固定只能靠外围的螺丝支柱孔来支撑,在治具的中间部分靠铜支柱进行辅助稳定。在使用过程中,治具中面板的中心部位容易出现胀缩、变形等现象,最终可能导致治具在组装插针时不顺畅,稳定性不够,影响测试良率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种能提升治具整体稳定性的用于测试PCB的治具卡条装置。

本实用新型是这样实现的,一种用于测试PCB的治具卡条装置,所述治具具有若干平行间隔设置的面板,所述治具卡条装置包括卡条和铜柱,所述卡条位于治具内部,且卡设于治具的若干面板上,所述铜柱垂直固设于所述治具的若干面板上,且沿其轴向包裹所述卡条的一侧。

进一步地,所述铜柱沿其轴向开设有缺口,所述卡条的一侧插置于所述缺口中。

进一步地,所述铜柱的数量与所述卡条的数量一致,所述面板上对应所述铜柱的位置开设有通孔,所述铜柱及卡条均穿设于所述通孔中。

进一步地,所述卡条上开设有与所述治具面板厚度相吻合的卡口,相邻两卡口的间距与需要卡合的两面板之间的间距一致。

进一步地,所述卡条上卡口的数量为七个、十个或十二个。

本实用新型与现有技术相比,有益效果在于:所述的用于测试PCB的治具卡条装置位于治具内部,其卡条卡设于治具的若干平行的面板上,可达到卡位的效果,而其铜柱包裹在卡条的一侧,可达到稳定及校正的效果,从而可以将治具中间部位的各层面板进行固定,对各层之间进行加固,提升治具整体的稳定性。

附图说明

图1是本实用新型治具卡条装置中面板、卡条与铜柱之间的位置示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

如图1所示,为本实用新型一较佳的实施例,一种用于测试PCB的治具卡条装置,该治具具有若干平行间隔设置的面板11、卡条12和铜柱13,卡条12位于治具内部,且卡设于治具的若干面板11上,铜柱13垂直固设于治具的若干面板11上,且沿其轴向包裹卡条12的一侧。

铜柱13沿其轴向开设有缺口,卡条12的一侧插置于缺口中。卡条12上开设有与治具面板11厚度相吻合的卡口121,相邻两卡口121的间距与需要卡合的两面板11之间的间距一致。铜柱13的数量与卡条12的数量一致,面板11上对应铜柱13的位置开设有通孔,通孔的直径略大于卡条10的宽度,铜柱13及卡条12均穿设于通孔中。

安装时,卡条12先穿设于各块面板11的通孔中,并平移,从而将平行间隔放置的若干块面板11卡住,卡条12能起到卡位的效果;之后,使铜柱13的缺口与卡条12没有卡口121的一侧位置相对应,将铜柱13从面板11上开设的通孔中穿过,铜柱13的缺口卡住卡条12没有卡口121的一侧。铜柱13能起到稳定及校正的效果,改善面板11涨缩及变形不良,提升了治具制作效率。

根据需要测试的电路板,治具卡条装置中的面板11可以设置为七层、十层或十二层,相应地,卡条12上卡口的数量为七个、十个或十二个。

所述的用于测试PCB的治具卡条装置在治具进行组装的时候,治具卡条装置位于治具内部,其卡条12卡设于治具的若干平行的面板11上,可达到卡位的效果,而其铜柱13包裹在卡条12的一侧,可达到稳定及校正的效果,从而可以将治具中间部位的各层面板11进行固定,对各层面板进行加固,提升治具整体的稳定性和组装时的效率。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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