[实用新型]一种用于测量热电块体元件电阻的系统有效

专利信息
申请号: 201520757299.5 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN205027820U 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 廖锦城;唐云山;夏绪贵;吴汀;柏胜强;陈立东 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 曹芳玲;姚佳雯
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 热电 块体 元件 电阻 系统
【权利要求书】:

1.一种用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,该系统包括样品测试架、电源输出装置、电压测量装置及控制装置;

所述热电块体元件放置于样品测试架上;

所述电源输出装置通过所述样品测试架的两个导流电极与所述热电块体元件的两端面面接触;

所述电压测量装置通过所述样品测试架的两个电压测量探针与所述热电块体元件的两端面点接触;

所述控制装置控制所述电源输出装置使输出的电流通过所述两个导流电极均匀地流过所述热电块体元件,且控制所述电压测量装置通过所述两个电压测量探针测量所述热电块体元件的两端面的电压,并基于所述电流和所述电压计算所述热电块体元件的阻值。

2.根据权利要求1所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述样品测试架包括电极支架、第一电极、第二电极;所述第一电极与第二电极位于所述电极支架的导向杆上,且所述第一电极与所述第二电极的中心在同一轴线上。

3.根据权利要求2所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述样品测试架还具备样品支撑台,所述样品支撑台位于所述电极支架的基板上且位于所述第一电极与所述第二电极之间。

4.根据权利要求2所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述电极支架包括基板、第一侧板、第二侧板、导向杆及压缩弹簧;所述第一侧板和所述第二侧板垂直于所述基板,且相对设置在所述基板的两侧;所述导向杆横跨在所述第一侧板与所述第二侧板之间,所述压缩弹簧位于所述导向杆上。

5.根据权利要求4所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述第一电极可移动地位于所述电极支架上;所述第二电极固定在电极支架上。

6.根据权利要求4所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述导向杆包括第一导向杆及第二导向杆,所述第一导向杆与所述第二导向杆平行且中心轴线在同一水平面上;所述压缩弹簧包括第一压缩弹簧和第二压缩弹簧,所述第一压缩弹簧、第二压缩弹簧分别位于所述第一导向杆及所述第二导向杆上。

7.根据权利要求2所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述第一电极和所述第二电极各自具备:导流电极、绝缘套、电压测量探针、电压测量探针过渡接头、电极座、电压测量引线端子、导流电极引线端子;所述导流电极各自的中心轴上有通孔,所述电压测量探针分别穿过所述通孔;所述绝缘套分别位于所述导流电极与各自侧的电压测量探针之间;所述电压测量探针过渡接头分别将各自侧的所述电压测量探针与各自侧的电压测量引线端子连接起来,同时将各自侧的所述电压测量探针分别固定在各自侧的电极座上;所述导流电极引线端子分别将各自侧的所述导流电极固定在各自侧的所述电极座上。

8.根据权利要求7所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述导流电极的材料的电阻率比所述热电块体元件的电阻率小1~2个数量级。

9.根据权利要求7所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述电压测量探针为弹簧探针。

10.根据权利要求7所述的用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,所述绝缘套、所述电极座为电绝缘材料;所述电压测量探针过渡接头、所述电压测量引线端子和所述导流电极引线端子为金属导电材料。

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