[实用新型]一种半导体制冷片的制冷量测试装置

权利要求书

1.一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括加热台和制冷模块，所述加热台的加热面与制冷模块的制冷面滑动地相向设置，所述加热台的加热面上设置有第一温度检测模块，所述制冷模块的制冷面设置有第二温度检测模块，所述加热台和制冷模块的输入端接控制模块的输出端。

2.根据权利要求1所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：还包括底座和导轨，所述加热台和导轨设置在底座上，所述制冷模块通过导轨上下滑动地设置在加热台上方，所述导轨由电机驱动，所述电机的输入端接控制模块的输出端。

3.根据权利要求1或2所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：所述第一温度检测模块和第二温度检测模块为温度传感器。

4.根据权利要求1或2所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：所述制冷模块为半导体制冷组件。

5.根据权利要求1或2所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：所述加热台采用加热棒或电磁加热。

6.根据权利要求2所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：所述电机为步进电机。

7.根据权利要求2所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：所述控制模块包括加热驱动模块、制冷驱动模块和电机驱动模块，所述加热驱动模块驱动加热台加热，所述制冷驱动模块驱动制冷模块制冷，所述电机驱动模块驱动电机工作。