[实用新型]一种涂层测厚仪有效
申请号: | 201520762770.X | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN205120028U | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 国江 | 申请(专利权)人: | 广州市果欧电子科技有限公司 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 510000 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 涂层 测厚仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种测厚仪,尤其涉及一种涂层测厚仪,可用于测量任何导电基体上的绝缘覆层厚度。
背景技术
目前,无损地测量金属基体上绝缘覆盖层厚度的仪器,精度较差,难以满足科学技术的需要,该问题亟待解决。
实用新型内容
现有技术不能满足人们的需要,为弥补现有技术不足,本实用新型旨在提供一种涂层测厚仪。
为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案,一种涂层测厚仪,包括:
壳体,所述壳体外设有LCD显示屏,所述壳体内封装有主控MCU,所述主控MCU采用32位CPU,所述LCD显示屏与所述主控MCU电性连接;
电源模块,所述电源模块为内置式的聚合物锂电池,所述电源模块与所述主控MCU电性连接,所述电源模块还包括一逆变器用以输出高频交流电;
第一探头,所述第一探头内设有一线圈,所述线圈在高频交流电的作用下产生交变电磁场,当第一探头与涂层接触时,金属基体上产生涡流并对第一探头中的线圈产生反馈作用,所述第一探头将线圈受到的反馈信号传送给所述主控MCU,所述主控MCU根据第一探头传来的数据计算出涂层的厚度并在所述LCD显示屏上显示,所述第一探头与所述主控MCU电性连接;
第二探头,所述第二探头与金属基体构成闭合磁路,所述第二探头将磁路磁阻变化信号传送给所述主控MCU,所述主控MCU根据所述磁路磁阻变化信号计算出所述金属基体上的涂层的厚度并在所述LCD显示屏上显示,所述第二探头与所述主控MCU电性连接;
第三探头,所述第三探头还包括有用以产生超声脉冲波的超声波发射电路、用以接收超声波回波的接收电路、用以计量脉冲数目的计数电路,所述超声波发射电路激励所述第三探头发射超声波脉冲,所述超声波脉冲经待测物体的介面反射后由所述接收电路接收,所述计数电路与主控MCU计算出涂层的厚度;
存储模块,所述存储模块用以储存涂层厚度的测量数据,包括测量的时间、测量时的温度、环境光强度、物体的硬度、表面平均曲率、表面粗糙度、探头的角度、测出的厚度数值,以上数据以数组的形式保存在存储模块中,所述存储模块与所述主控MCU电性连接;
USB通信模块,所述USB通信模块与所述主控MCU通过信号线连接,所述USB通信模块通过主控MCU可以读取所述存储模块内的数据,所述USB通信模块与所述电源模块电性连接;
蓝牙通信模块,所述蓝牙通信模块与所述主控MCU通过信号线连接,所述蓝牙通信模块通过主控MCU可以读取所述存储模块内的数据;
校准模块,所述校准模块与所述主控MCU电性连接,所述校准模块与传感器模块电性连接;
报警器,所述报警器包括指示灯、蜂鸣器,所述报警器与所述主控MCU电性连接;
清洗装置,所述壳体上还设有清洗装置,所述清洗装置用以清除涂层表面的污垢。
优选的,所述传感器模块包括温度传感器、加速度传感器、光传感器、三维扫描模块、曲率半径测量仪、硬度测量仪、表面粗糙度测量仪、电阻率测量模块、湿度传感器;所述传感器模块将测出的各种物理量信号传递给所述校准模块,所述校准模块将所述物理量信号传递给所述主控MCU进而校准读数。
优选的,所述蓝牙通信模块与手机通过无线信道连接。
优选的,所述USB通信模块与PC上位机通过信号线连接,所述PC上位机与云服务器通过GPRS连接。
优选的,所述主控MCU采用安卓系统或iOS系统。
优选的,所述主控MCU采用Cortex-M3处理器。
优选的,所述LCD显示屏采用2.4寸TFT-LCD彩色显示屏。
优选的,所述蓝牙通信模块采用蓝牙4.0BLE/3.0双模,所述蓝牙通信模块兼容蓝牙2.0。
优选的,所述主控MCU上还电性连接有语音播报模块,所述语音播报模块用以语音播报出测量结果。
优选的,所述主控MCU上还电性连接有3D打印模块,所述三维扫描模块用以构建涂层的三维模型,所述三维扫描模块将三维模型数据传递给所述3D打印模块,所述3D打印模块驱动3D打印机进行打印。
优选的,所述主控MCU上还电性连接有指纹解锁模块,所述指纹解锁模块用以解除主控MCU的锁定状态。
优选的,所述主控MCU上还电性连接有GPS定位器。
优选的,所述壳体采用塑料制成。
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