[实用新型]具有碎屏检测功能的电子设备有效
申请号: | 201520763124.5 | 申请日: | 2015-09-29 |
公开(公告)号: | CN205139262U | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 赵跃 | 申请(专利权)人: | 赵跃 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张建纲 |
地址: | 广东省深圳市宝安区西乡前*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 检测 功能 电子设备 | ||
技术领域
本发明涉及电子设备检测领域,具体涉及一种具有碎屏检测功能的电 子设备。
背景技术
随着移动设备的快速发展和人们生活水平的不断提高,各种移动终端 如手机、平板电脑等的使用越来越普及,手机已经成为人们生活中不可缺 少的通信工具。
随着智能手机屏幕越来越大,通常手机屏幕包括:由下至上布置的显 示屏和盖板,显示屏为手机屏幕的触摸功能层,盖板用于对显示屏进行保 护,通常采用玻璃材质制备。屏幕因为跌落而破碎的几率越来越大,由于 智能手机等移动设备一般采用触摸屏进行感应输入命令或文本等输入操 作,当屏幕因跌落而破碎时,会导致触摸屏输入故障,发生输入错误的现 象。平板电脑因为尺寸普遍超过7寸,更是容易跌碎屏幕。
现有技术中存在例如通过内置的重力感应器检测手机是否跌落,并对 跌落的手机进行相应的姿态调整,以防止屏幕破碎,然而,这并不能确保 手机屏幕不会破碎,如何实现对屏幕是否破碎进行检测,成为亟待解决的 问题。
发明内容
因此,本发明要解决的技术问题在于如何检测电子设备屏幕的破碎, 从而提供一种具有碎屏检测功能的电子设备。
根据第一方面,一种发明实施中提供一种具有碎屏检测功能的电子设 备,包括:
信号连接的显示屏和主板电路;显示屏用于以可视化形式显示主板电 路发送的信息,和/或用于向主板电路发送用于表征相应操作的控制信号。 其中,显示屏至少一面上设置有碎屏检测电路,用于检测显示屏是否破碎。
优选地,碎屏检测电路设置在显示屏上靠近主板电路的一面上,和/ 或,碎屏检测电路设置在显示屏上远离主板电路的一面上。
优选地,显示屏为电容屏;碎屏检测电路包括:感应电极,用于与电 容屏之间形成感应电容;第一导电线路,其沿电容屏布置在电容屏的同一 面上,还与感应电极连接导通;主板电路用于接收感应电容,并根据感应 电容的信号强度判断第一导电线路所经电容屏区域是否碎屏。
进一步,第一导电线路沿电容屏四周边沿布置在电容屏的同一面上。
进一步,感应电极设置在电容屏的视窗区域范围内。
进一步,感应电极和第一导电线路由透明材料制备。
进一步,感应电极与电容屏胶接。
优选地,碎屏检测电路包括:第二导电线路,其沿显示屏布置在显示 屏的同一面上,用于形成等效电阻,导电线路的两端分别串接于主板电路 的电阻信号采集端;主板电路用于采集等效电阻,并根据等效电阻的大小 判断导电线路所经显示屏区域是否碎屏。
进一步,第二导电线路沿显示屏四周布置在显示屏的同一面上。
进一步,显示屏为电阻屏,第二导电线路与电阻屏之间绝缘。
本发明提供的具有碎屏检测功能的电子设备,由于在显示屏上设置有 碎屏检测电路,因此,能够检测电子设备的显示屏是否破碎。
作为优选的技术方案,由于感应电极能够与电容屏之间形成感应电 容,当电容屏破碎时,会使得沿电容屏布置的第一导电线路断裂,从而使 得感应电容发生变化,根据该感应电容的变化,主板电路可以判断出电容 屏是否破碎。
作为优选的技术方案,将第一导电线路沿电容屏四周布置,从而能够 对电容屏四周进行破裂检测。
作为优选的技术方案,由于沿显示屏布置的第二导电线路能够形成等 效电阻,第二导电线路的两端串接于主板电路,当显示屏破碎时,会使得 沿显示屏布置的第二导电线路断裂,从而使得等效电阻发生变化,根据该 等效电阻的变化,主板电路可以判断出显示屏是否破碎。
作为优选的技术方案,将第二导电线路沿显示屏四周布置,从而能够 对显示屏四周进行破裂检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下 面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍, 显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普 通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获 得其他的附图。
图1a为本实施例具有碎屏检测功能的电子设备的一种侧视结构示意 图;
图1b为本实施例具有碎屏检测功能的电子设备的另一种侧视结构示 意图;
图2本实施例1中公开的一种电子设备碎屏检测电路结构原理图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赵跃,未经赵跃许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520763124.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电枢绕组检测装置
- 下一篇:一种集中控制式电子镇流器测试系统