[实用新型]恒温晶振启动状态自动测试系统有效
申请号: | 201520784052.2 | 申请日: | 2015-10-10 |
公开(公告)号: | CN205103327U | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 丁凡;纪苗;张凡;汤凡 | 申请(专利权)人: | 武汉海创电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 武汉华旭知识产权事务所 42214 | 代理人: | 周宗贵 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 恒温 启动 状态 自动 测试 系统 | ||
1.一种恒温晶振启动状态自动测试系统,包括控制设备(1)、多块测试板(2)、高精度频率计数器(3)、温度试验箱(4)、直流稳压电源(5),其特征在于:所述控制设备(1)为具有虚拟仪器软件结构函数库的工控计算机,在所述控制设备(1)内设置有一块32位数据卡(1.1);
所述高精度频率计数器(3)和直流稳压电源(5)通过GPIB线(6)与控制设备(1)相连;
所述每块测试板(2)都放置于所述温度试验箱(4)内;
所述每块测试板(2)上设置有多个放置恒温晶振(7)的工位(2.1)、一个控制恒温晶振(7)选位的3/8译码器(2.2)、多个控制恒温晶振(7)通断的继电器(2.3)、一个板间级接口(2.4)和一个32位数据卡接口(2.5);
所述每个工位(2.1)上插置有一个恒温晶振(7),所述直流稳压电源(5)与每块测试板(2)相连并为每个恒温晶振(7)供电;所述高精度频率计数器(3)与每块测试板(2)相连并读取每个恒温晶振(7)的频率;
在同一测试板(2)上,所述32位数据卡接口(2.5)的输入端与32位数据卡(1.1)连接,32位数据卡接口(2.5)的输出端分别连接板间级联接口(2.4)和3/8译码器(2.2)的信号输入端;所述3/8译码器(2.2)的信号输出端分别连接每个继电器(2.3),所述每个继电器(2.3)与每个恒温晶振(7)分别对应相连;
所述每块测试板(2)之间通过板间级联接口(2.4)相互连接。
2.根据权利要求1所述的恒温晶振启动状态自动测试系统,其特征在于:所述每块测试板(2)上还包括两对电源接线柱(2.6)和一个频率输出接线柱(2.7),所述直流稳压电源(5)通过电源接线柱(2.6)与测试板(2)相连,所述高精度频率计数器(3)通过频率输出接线柱(2.7)与测试板(2)相连。
3.根据权利要求1所述的恒温晶振启动状态自动测试系统,其特征在于:所述测试板(2)有五块;在每块测试板(2)上,工位(2.1)为八个,所述继电器(2.3)为八个。
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