[实用新型]含定向扩散结的肖特基器件有效

专利信息
申请号: 201520792159.1 申请日: 2015-10-14
公开(公告)号: CN204966511U 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 洪旭峰;王锰 申请(专利权)人: 上海芯石微电子有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201605 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 定向 扩散 肖特基 器件
【权利要求书】:

1.一种含定向扩散结的肖特基器件,其组成包括:硅单晶基片,其特征是:所述的硅单晶基片上具有外延层,所述的外延层上设置有肖特基势垒区,所述的肖特基势垒区与一组台面凸点P型区配合,所述的肖特基势垒区上部装有阳极金属层,所述的阳极金属层两侧设置有金属场板,所述的阳极金属层两侧与厚氧化层连接,所述的厚氧化层下部装有P+环,所述的硅单晶基片下部装有阴极金属层。

2.根据权利要求1所述的含定向扩散结的肖特基器件,其特征是:所述的硅单晶基片为重掺杂的N型硅单晶基片,所述的外延层为低掺杂的N-外延层,所述的肖特基势垒区设置有台面凹面,所述的台面凸点P型区和所述的肖特基势垒区共同形成整流结。

3.根据权利要求1所述的含定向扩散结的肖特基器件,其特征是:所述的台面凸点P型区为硼杂质注入后经过高温扩散形成,所述的台面凸点P型区结深比所述的肖特基势垒区的台面凹面深度深,但低于所述的P+环的结深,所述的台面凸点P型区的硼浓度从上向下逐渐降低,且在同水平线方向上,表面浓度低于体内浓度,呈倒置的“小蘑菇”状;所述的肖特基势垒区为所述的外延层刻蚀形成的台面凹面,凹面表面浓度与所述的外延层的掺杂浓度相同。

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