[实用新型]一种一次性测试多个EPON设备端口的测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及EPON设备端口测试技术领域，本实用新型公开了一种一次性测试多个EPON设备端口的测试系统。

背景技术

随着EPON产品在网络部署中使用越来越多，同时一个设备或者板卡上PON端口数目也越来越多，对于这类设备的端口的发货测试成为一个困难问题，由于PON端口之间相互隔离，通常一次测试只能覆盖一个PON端口。特别是在测试仪表端口有限的情况下，要覆盖一个EPON设备或者一张PON卡上所有的PON口基本数据流转发测试，需要进行多次进行重复性测试。

实用新型内容

针对现有技术中的测试系统要覆盖一个EPON设备或者一张PON卡上所有的PON口基本数据流转发测试，需要进行多次进行重复性测试的技术问题，本实用新型公开了一种一次性测试多个EPON设备端口的测试系统。

本实用新型的技术方案如下

本实用新型公开了一种一次性测试多个EPON设备端口的测试系统，其具体包括端口测试仪和EPON设备，所述端口测试仪包括测试报文输出端口和测试报文返回端口，所述EPON设备包括四个上联以太口和N个待测试的PON口，每个PON口分别连接一个ONU单元，两两ONU单元依序连接，第1ONU单元连接第2ONU单元，第3ONU单元连接第4OUN单元，……，依次类推，测试报文输出端口通过第一上联以太口连接到第1个PON口，第N个PON口通过第四上联以太口连接到测试报文返回端口，第二上联以太口和第三上联以太口互联，第二上联以太口与序号为2，4，……，N-2的偶数PON口互联，第三上联以太口与序号为3，5，……，N-1的偶数PON口互联。

更进一步地，两两ONU单元之间通过网线进行连接。

更进一步地，第二上联以太口和第三上联以太口通过光纤互联。

更进一步地，测试报文输出端口和测试报文返回端口为千兆口。

更进一步地，第二上联以太口和第三上联以太口为万兆口。

更进一步地，N小于等于20。

通过采用以上的技术方案，本实用新型的有益效果为：采用本实用新型的测试系统可以使用两个千兆测试仪端口一次性测试多个PON端口的数据转发性能，最多可以支持20个PON端口测试，同时还可以在这个环境中对2个万兆上联端口的流量转发性能进行测试。

附图说明

图1为本实用新型的一次性测试多个EPON设备端口的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

首先解释几个术语，PON，PassiveOpticalNetwork，无源光纤网络；EPON，EthernetPassiveOpticalNetwork，以太网无源光网络，是基于以太网的PON技术；ONU，OpticalNetworkUnit，光网络单元；VLAN，VirtualLocalAreaNetwork，虚拟局域网。

本实用新型公开了一种一次性测试多个EPON设备端口的测试系统，其具体包括端口测试仪和EPON设备，所述测试仪包括测试报文输出端口（port1）和测试报文返回端口（port2），所述EPON设备包括四个上联以太口（TenX/1,TenX/2,TenX/3,TenX/4）和N个待测试的PON口，对每个PON口依序进行编号，分别为第1PON口，第2PON口，……，第NPON口，每个PON口分别连接一个ONU单元，即第1ONU单元，第2ONU单元，……，第NNU单元，两两ONU单元依序通过网线进行连接，比如第1ONU单元连接第2ONU单元，第3ONU单元连接第4OUN单元，……，依次类推。测试报文输出端口通过第一上联以太口连接到第1个PON口，第N个PON口通过第四上联以太口连接到测试报文返回端口，第二上联以太口和第三上联以太口通过光纤互联，第二上联以太口与序号为2，4，……，N-2的偶数PON口互联，第三上联以太口与序号为3，5，……，N-1的偶数PON口形成一个VLAN。通过上述的测试系统，可以使用两个测试仪端口一次性测试N个PON端口的数据转发性能。还能同时测试2个万兆上联端口的流量转发性能。