[实用新型]清洗震荡槽有效
申请号: | 201520843628.8 | 申请日: | 2015-10-28 |
公开(公告)号: | CN205122543U | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 李澄盛 | 申请(专利权)人: | 世平科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518106 广东省深圳市光明新区公明办*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 震荡 | ||
【技术领域】
本实用新型涉及一种清洗震荡槽,特别是涉及一种涉及可用于清洗半导体设备零件的清洗震荡槽。
【背景技术】
在半导体制程中,必须定期或不定期地对半导体制程设备的零件进行清洗及再生,以维持半导体制程设备的效能,并可延长设备的使用寿命。
以物理气相沉积制程为例,物理气相沉积制程主要是在一基板上沉积一薄膜。首先利用一直流电源分别电性耦接至一背板及一遮覆板,通过该背板及该遮覆板于该反应室腔体内形成电场将离子枪束击向金属靶材。在离子枪束撞击靶材后,会将该靶材上的金属溅射在该基板上而形成该薄膜。
通常,物理气相沉积之反应室腔体在使用一段时间后,会在反应室腔体中该遮覆板及母材的表面形成金属镀膜,因此必须对反应室腔体进行洗净与再生,防止金属镀膜破裂或剥落所产生之微尘粒子散布至该基板而影响良率。所谓洗净系指针对反应室腔体中该遮覆板及该母材之金属镀膜的材质选用适当之方法与材料予以去除,例如以酸性或碱性之化学溶液浸泡反应室腔体,将形成于遮覆板及母材表面之金属镀膜溶解分离。所谓再生是指洗净后再以喷砂及整形等方式恢复该遮覆板及母材原有外形与表面特性。然而上述洗净及再生皆会侵蚀与损耗反应室腔体中遮覆板及母材的本体厚度,造成使用寿命减短。
此外,对于反应室腔中的螺丝孔,例如锁固于该母材之间之螺丝孔,上述以化学溶液浸泡反应室腔体、对该遮覆板及该母材喷砂及整形等步骤会使螺丝孔产生扩孔现象,因此在多次进行洗净及再生后,会造成螺丝孔尺寸与原先尺寸有所差异,导致螺丝孔与螺丝在组合时误差过大而使得锁固功能不佳甚至无法继续使用。
并且,由于在前述洗净等过程中,必须使用大量的酸性或碱性之化学溶液,浸泡遮覆板及母材,以溶解金属镀膜,使其与遮覆板及母材分离。由于不可避免地必须使用大量的酸性或碱性之化学溶液,因而在洗净的过程中,必须使用大量的清水来冲洗半导体制程的零件。
【实用新型内容】
本实用新型的主要目的在于提供一种清洗震荡槽,其特征在于:所述清洗震荡槽包括:
震荡槽;以及
清洗架,用以承载半导体设备零件于所述震荡槽内;以及
多个人工草皮,覆盖于所述清洗架上。
在一实施例中,所述清洗架是由多个金属框架所组成。
相较于现有的震荡清洗的问题,在进行纯水冲洗时,可利用本实用新型的清洗台来承载半导体设备零件于清洗台本体的台面上,清洗台本体的台面上覆盖有人工草皮,纯水可通过人工草皮之间的空隙流出,避免残留水滴或水痕于半导体设备零件上。再者,人工草皮的柔软性也可避免伤害零件。
为让本实用新型的上述内容能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:
【附图说明】
图1是本实用新型的清洗震荡槽的一实施例的示意图;
图2为本实用新型的清洗架的一实施例的示意图;
图3为本实用新型半导体设备零件的清洗台的一实施例的示意图;以及
图4为本实用新型的熔射设备的一实施例的示意图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式,用以例示本实用新型可用以实施的特定实施例。本实用新型所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本实用新型,而非用以限制本实用新型。
附图和说明被认为在本质上是示出性的,而不是限制性的。在图中,结构相似的单元是以相同标号表示。另外,为了理解和便于描述,附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的,但是本实用新型不限于此。
在附图中,为了清晰起见,夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中,为了理解和便于描述,夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是,当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时,所述组件可以直接在所述另一组件上,或者也可以存在中间组件。
另外,在说明书中,除非明确地描述为相反的,否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件,但是不排除任何其它组件。此外,在说明书中,“在......上”意指位于目标组件上方或者下方,而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造