[实用新型]一种用于扩展chroma 3380p测试平台的功能的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置。

背景技术

chroma3380p测试平台在对被测芯片进行测试时，设置了位于奇数列的被测芯片是并联的（比如被测芯片DUT1和DUT3是并联的），位于偶数列的被测芯片也是并联的（比如被测芯片DUT0和DUT2是并联的），1个位于奇数位的被测芯片和1个位于偶数位的被测芯片是串联的（比如被测芯片DUT0和DUT1是串联的）。

当利用chroma3380p测试平台的电源通道为被测被测芯片供电时，可同时为所有芯供电，但是当测试被测芯片的I/0引脚的性能时，就需要将位于奇数列的被测芯片和位于偶数列的被测芯片分开测试。

目前chroma3380p测试平台的电源通道为64个，数字通道为512个，由于某些被测芯片的I/0引脚较多，比如1个被测芯片有4个I/O引脚，那么512个数字通道就可用于同时测试128个被测芯片，但是电源通道只有64个，无法满足128个被测芯片同测的要求，因此，只能对64个具有4个I/O引脚的被测芯片进行测试，也就是要浪费部分数字通道的资源。

测试64个被测芯片的测试效率也只有128个被测芯片同测的效率的60%左右，这样无法满足产能的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，该用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置供软件工程师编写软件后，可提高被测芯片测试平台的测试效率。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现：

提供一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置，包括上位机、控制器和用于将chroma3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端的被测芯片通道选择器，所述上位机与控制器通讯，所述控制器与所述被测芯片通道选择器的受控端电连接，每两个所述被测芯片通道选择器的输入端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述被测芯片通道选择器的输出端与被测被测芯片的电源端电连接，所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的整数倍。

所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍。

所述被测芯片通道选择器设为继电器组，所述控制器与继电器组的每个继电器的线圈电连接，每两个所述继电器的开关的一端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述继电器的开关的另一端用于与被测被测芯片的电源端电连接。

所述继电器组的继电器数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的两倍。

所述被测芯片通道选择器设为单片机，所述单片机的输入端与chroma3380p测试平台的电源输出端一一对应电连接，所述单片机的每个输出端对应与一个被测被测芯片的电源端电连接。

本实用新型的有益效果：本实用新型包括上位机、控制器和用于将chroma3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端的被测芯片通道选择器，所述上位机与控制器通讯，所述控制器与所述被测芯片通道选择器的受控端电连接，每两个所述被测芯片通道选择器的输入端与chroma3380p测试平台的同一个电源输出端电连接，每个所述被测芯片通道选择器的输出端与被测被测芯片的电源端电连接，所述被测芯片通道选择器的电源输出端的数量为所述chroma3380p测试平台的电源输出端的数量的整数倍。本实用新型的控制器可供软件工程师编写软件，再通过被测芯片通道选择器切换来控制chroma3380p测试平台的电源的使用，可以有效的解决测试平台资源受限的难题，通过被测芯片通道选择器的切换，可以使chroma3380p测试平台的一个电源输出端对至少两颗被测芯片进行测试，64个电源通道可至少对128颗被测芯片同时进行供电，可提高被测芯片测试平台的测试效率。

附图说明

利用附图对实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图1是本实用新型的一种用于扩展chroma3380p测试平台的功能的装置的局部结构示意图。

具体实施方式