[实用新型]一种测量倾角和位移的系统有效
申请号: | 201520872740.4 | 申请日: | 2015-11-04 |
公开(公告)号: | CN205120046U | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 钱向伟;方海峰;陈士钊;叶岗;宋云峰 | 申请(专利权)人: | 宁波舜宇智能科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01C9/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 邓猛烈;潘登 |
地址: | 315499 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 倾角 位移 系统 | ||
1.一种测量倾角和位移的系统,其特征在于,包括:第一激光器、第二激光器、第一接收光学系统、第二接收光学系统、第一窄带滤光片、第二窄带滤光片、第一光电探测器、第二光电探测器、视窗片、被测面、分光镜、反射镜、直角棱镜以及倾角计算电路和位移计算电路;
其中,所述视窗片位于所述被测面的上方,所述第一激光器位于所述视窗片的左上方;所述第二激光器和直角棱镜位于所述视窗片的上方,且所述第二激光器位于所述直角棱镜的左侧;
所述反射镜位于所述第二激光器和直角棱镜的上方,且与所述直角棱镜的斜面平行,所述第一接收光学系统位于所述反射镜的上方,所述第一窄带滤光片位于所述第一接收光学系统的上方,所述第一光电探测器位于所述第一窄带滤光片的上方,且所述反射镜的中心、第一接收光学系统中心、第一窄带滤光片的中心和第一光电探测器的中心位于同一条直线上;
所述分光镜位于所述视窗片的右上方、反射镜的右侧,且与所述反射镜平行,并且所述分光镜的中心和所述反射镜的中心组成的直线与所述视窗片平行,所述第二接收光学系统位于所述分光镜的右上方,所述第二窄带滤光片位于所述第二接收光学系统的右上方,所述第二光电探测器位于所述第二窄带滤光片的右上方,且所述分光镜的中心、所述第二接收光学系统的中心、第二窄带滤光片的中心和第二光电探测器的中心位于同一条直线上;
所述第一接收光学系统用于把第一激光器发射的激光束经被测面反射的反射激光束聚焦到处在焦平面处的第一光电探测器的感光面上,形成第一光斑;所述第二接收光学系统用于把第二激光器发射的激光束在被测面上形成的激光点成像到第二光电探测器的感光面上,形成第二光斑;
所述倾角计算电路与第一光电探测器电连接,用于处理所述第一光电探测器转换第一光斑得到的第一电流信号,得到测量的倾角;
所述位移计算电路与第二光电探测器电连接,用于处理所述第二光电探测器转换第二光斑得到的第二电流信号,得到测量的位移。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一激光器和第二激光器、第一接收光学系统和第二接收光学系统、第一窄带滤光片和第二窄带滤光片、第一光电探测器和第二光电探测器、分光镜、反射镜以及直角棱镜分别固定有底座,所述的底座固定在同一块光学平面底板上。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一激光器为405纳米波长的半导体激光器,所述第二激光器为650纳米波长的半导体激光器;
所述分光镜反射405纳米波长的蓝紫光,透射650纳米波长的红光;
所述第一窄带滤光片透过405纳米波长的蓝紫光,所述第二窄带滤光片透过650纳米波长的红光。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一接收光学系统为会聚透镜,所述第二接收光学系统为消像差透镜。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一光电探测器为二维位置传感器,用于感应被测面倾角变化引起的信号变化,所述第二光电探测器为一维位置传感器,用于感应被测面在法线方向位移变化引起的信号变化。
6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述被测面覆盖在摄像头镜面上,所述被测面的中间设定位置为漫反射区域,所述被测面的设定位置以外的区域为镜面反射区域。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述直角棱镜为反射棱镜,用于把第二激光器发射的激光转折90度。
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