[实用新型]一种模数转换芯片量产测试电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种模数转换芯片量产测试电路。

背景技术

一般，在所有电子元器件(包括集成芯片、分立元件等)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程，即通过自动测试设备去测试每个电子元器件的真伪。在测试电子元器件时，测试成本越低越好。

目前，降低芯片测试成本的方法有两种：一是增加可同时测试的芯片的数量(简称同测数)，二是降低每个芯片的测试时间，即在相同时间内，测试的芯片数目越多，生产成本就越低。可同时测试的芯片的数量由自动测试设备的通道数和电源数决定。目前，在批量测试模数转换芯片时，主要有两种方法：一种是直接由自动测试设备的精准电源给被测模数转换芯片供电，自动测试设备直接输出一模拟信号至被测模数转换芯片，再测被测模数转换芯片的输出；另一种是在自动测试设备上配一块专门测试模数转换芯片的数模转换板卡，自动测试设备输出一数字信号至所述数模转换板卡，所述数模转换板卡将所述数字信号处理后输出三角波或正弦波至被测模数转换芯片，再由自动测试设备测试被测模数转换芯片的输出。

第一种测试方法的缺点在于：(1)由于自动测试设备的精准电源不多，一般为8个，给被测芯片供电还需占用自动测试设备的精准电源，这样会限制可同时测试的芯片的数量；(2)这种测试方法易受外界干扰；(3)测试时间长。

第二种测试方法的缺点在于：(1)在自动测试设备上专门配一块测试模数转换芯片的板卡会占用自动测试设备较多的通道资源，导致可同时测试的芯片数受到限制；(2)测试时间长。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种模数转换芯片量产测试电路，旨在解决现有技术中直接由自动测试设备的精准电源给模数转换芯片供电或通过配置数模转换板卡对模数转换芯片进行测试导致可同时测试的芯片数受到限制、测试时间长、成本高的问题。

本实用新型是这样实现的，本实用新型提供了一种模数转换芯片量产测试电路，与多个被测模数转换芯片连接，其特征在于，所述模数转换芯片量产测试电路包括：

测试端与所述多个被测模数转换芯片的输出端连接，检测所述多个被测模数转换芯片输出是否正确的自动测试设备；

多路数模转换电路，每一路数模转换电路的三个输入端分别与所述自动测试设备相对应的三个通道连接，每一路数模转换电路的输出端与相对应的所述被测模数转换芯片的输入端连接，所述数模转换电路将所述自动测试设备输出的数字信号转换为模拟信号后输出至所述被测模数转换芯片。

进一步的，所述每一路数模转换电路均包括数模转换单元和放大单元；

所述数模转换单元的三个输入端分别与所述自动测试设备相对应的三个通道连接，所述数模转换单元的输出端接所述放大单元，所述放大单元的输出端与相应的所述被测模数转换芯片连接。

进一步的，所述数模转换单元包括：

数模转换芯片U1、滤波电容C1和滤波电容C2；

所述数模转换芯片U1的数据输入脚SDI、时钟脚SCLK和片选脚CS分别为所述数模转换单元的三个输入端，所述数模转换芯片U1的数字地脚DGND接地，所述数模转换芯片U1的电源脚VCC、所述数模转换芯片U1的参考电压脚VREF、所述滤波电容C1的第一端和所述滤波电容C2的第一端共接于+5V电源，所述数模转换芯片U1的模拟地脚AGND、所述滤波电容C1的第二端和所述滤波电容C2的第二端共接于地，所述数模转换芯片U1的电压输出脚VOUT接所述放大单元。

进一步的，所述放大单元包括：

运算放大器U2、滤波电容C3和滤波电容C4；

所述运算放大器U2的输入脚IN+接所述数模转换芯片U1的电压输出脚VOUT，所述运算放大器U2的负电源脚V-和所述滤波电容C3的第一端共接于-15V电源，所述滤波电容C3的第二端接地，所述运算放大器U2的正电源脚V+和所述滤波电容C4的第一端共接于+15V电源，所述滤波电容C4的第二端接地，所述运算放大器U2的电压反馈脚VOS和所述运算放大器U2的输出脚OUT共接于所述被测模数转换芯片。