[实用新型]一种溅射镀膜掩膜版有效
申请号: | 201520919773.X | 申请日: | 2015-11-18 |
公开(公告)号: | CN205229663U | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 赖会琼;邢慧颖;杨丹;杨正军;王光强 | 申请(专利权)人: | 宁波东盛集成电路元件有限公司 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 315800 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 溅射 镀膜 掩膜版 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种掩膜版,具体涉及一种溅射镀膜掩膜版。
背景技术
在半导体制造的整个流程中,其中一部分就是从版图到wafer制造中间的一个过程, 即光掩膜或称光罩(mask)制造,这一部分是流程衔接的关键部分,是流程中造价最高的一 部分,也是限制最小线宽的瓶颈之一,其中,掩膜基版是制作微细光掩膜图形的理想感光 性空白板,通过光刻制版工艺可以获得所需光掩膜版。简单地说,光掩膜基版在被刻蚀上 掩膜图形之后就成为光掩膜版,是曝光过程中的原始图形的载体,通过曝光过程,这些图 形的信息将被传递到芯片上,现有技术中,掩膜版中透光孔大多采用简单的方形孔或条形 孔,随着科学技术的发展和市场的需求,传统的掩膜版已经不能满足人们的需求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种具有多种图形,能够满足不同用户需求,使用便捷并 且制造成本低的溅射镀膜掩膜版。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种溅射镀膜掩膜版,包括本体,本体为方形结构,本体长度为20mm,本体宽度为 20mm,本体四个顶点位置均设有十字件,十字件长度和宽度均为1.2mm。
作为上述技术的进一步改进,所述本体中部沿四个对角线方向分别设有第四方形孔, 第四方形孔长度为0.3mm,宽度为0.2mm。
作为上述技术的进一步改进,所述本体沿横向和纵向分别设有两个孔组,孔组包括第 一孔体、第二孔体以及第三孔体,第一孔体包括方形孔和条形孔,方形孔长度和宽度均为 1mm,方形孔下部连接条形孔,条形孔长度为2.45mm,宽度为0.2mm,条形孔下部左右 两侧沿条形孔中心线方向对称设置第二孔体和第三孔体,第二孔体和第三孔体结构相同, 第二孔体包括方形孔、斜向条形孔和竖向条形孔,斜向条形孔与水平线之间夹角为45度。
作为上述技术的进一步改进,所述本体中部沿四个对角线方向分别设有方形孔组,方 形孔组包括第一方形孔、第二方形孔以及第三方形孔,第二方形孔设于第一方形孔和第三 方形孔之间,第一方形孔和第三方形孔结构相同,第一方形孔长度为0.3mm,宽度为0.2mm, 第二方形孔长度为0.2mm,宽度为0.1mm,第一方形孔、第二方形孔以及第三方形孔呈横 向排布。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本体上具有十字件、方形孔以及条形孔 等多种图形,能够满足不同用户的需求,十字件、方形孔以及条形孔等图形的大小以及位 置在本体上布置得当,使用非常方便,图形对准精度高并且制造成本较低,具有很好的实 用性。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图A。
图2为本实用新型的结构示意图B。
图3为本实用新型的结构示意图C。
图4为本实用新型的结构示意图D。
图中:1-本体、2-十字件、3-第一方形孔、4-第二方形孔、5-第三方形孔、6-第四方 形孔、7-方形孔、8-条形孔、9-斜向条形孔、10-竖向条形孔。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
一种溅射镀膜掩膜版,包括本体1,本体1为方形结构,本体1长度为20mm,本体1 宽度为20mm,本体1四个顶点位置均设有十字件2,十字件2长度和宽度均为1.2mm。
实施例1
本实施例中,本体1中部沿四个对角线方向分别设有方形孔组,方形孔组包括第一方 形孔3、第二方形孔4以及第三方形孔5,第二方形孔4设于第一方形孔3和第三方形孔5 之间,第一方形孔3和第三方形孔5结构相同,第一方形孔3长度为0.3mm,宽度为0.2mm, 第二方形孔4长度为0.2mm,宽度为0.1mm,第一方形孔3、第二方形孔4以及第三方形 孔5呈横向排布。
实施例2
本实例中,本体1中部沿四个对角线方向分别设有第四方形孔6,第四方形孔6长度 为0.3mm,宽度为0.2mm。
实施例3
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波东盛集成电路元件有限公司,未经宁波东盛集成电路元件有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520919773.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:显影装置和图像形成装置
- 下一篇:胶卷冲洗机
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备