[实用新型]一种光纤微弯测试专用光纤盘

说明书

技术领域

本实用新型属于光纤生产技术领域，尤其是涉及一种光纤微弯测试专用光纤盘。

背景技术

随着光纤通信网络迅速发展，国内三大运营商的4G竞争已经进入白热化状态，对供应商产品的技术参数要求也越来越高，其中对光纤衰减系数也提出了更高的要求。为了适应不断发展光纤通信网络，光纤厂在衰减方面也在不断地技术创新，研制出了低损耗光纤，甚至超低损耗光纤；原本不受人们重视的微弯，也慢慢地进入研究议题。所谓微弯损耗是由于光纤轴线微小的畸变造成的损耗，这些轴线上微小的畸变是由于光纤受到不均匀的应力作用。本色光纤产生微弯由涂料配方、拉丝固化不良、拉丝PMD搓动、主牵引皮带等工艺特性决定的，而成缆后的光纤产生微弯则由组装光缆过程、铺设光缆安装过程及环境温度造成；而外部因素的随机性和不可避免性，进一步影响了光缆衰减测试的稳定性，因此，单纯提供光纤各波长的衰减值已经不能满足客户的需求。因此需要在光纤未成缆时，模拟外部因素对光纤产生不均匀的应力，测量光纤从自然状态到模拟状态所引起的附加衰减即微弯。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型旨在提出一种光纤微弯测试专用光纤盘，在光纤未成缆时，能够通过本光纤盘复绕光纤来模拟外部因素对光纤产生不均匀的应力，测量光纤从自然状态到模拟状态所引起的附加衰减即微弯。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种光纤微弯测试专用光纤盘，包括光纤盘本体以及光纤盘本体上设置的一层砂纸；所述砂纸平整的包裹在所述光纤盘本体上复绕光纤处的表面。

进一步，所述砂纸粘贴在所述光纤盘本体上。

进一步，所述光纤盘本体的半径≥140mm。

进一步，所述砂纸细度规格为P320。

进一步，所述光纤盘本体上还设有卡线槽以及与卡线槽匹配的弹性压块；所述弹性压块塞入卡线槽内。

进一步，所述光纤盘本体采用石英一体成型。

相对于现有技术，本实用新型具有以下优势：

可在光纤微弯测试时将光纤复绕在本光纤盘砂纸的粗糙面上，并使光纤处于一定的张力下，来模拟外部因素对光纤造成的微弯，砂纸可以进行更换，光纤盘能够重复利用，节约材料，使用方便可靠，效果好，同时成本低廉。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为图1中A处结构的放大图；

图3为本实用新型实施例中光纤微弯衰减示意图。

附图标记说明：

1-光纤盘本体，2-砂纸，3-卡线槽，4-弹性压块。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

一种光纤微弯测试专用光纤盘，如图1所示，包括光纤盘本体1以及光纤盘本体1上设置的一层砂纸2；所述砂纸2平整的包裹在所述光纤盘本体1上复绕光纤处的表面，需要注意的是，为保证光纤微弯测试结果准确，砂纸2只在光纤盘本体1圆周外表面设置一层，砂纸2接缝处应平整、对齐。复绕的光纤以一定张力作用在砂纸2上，由于力是相互的，光纤也受到了砂纸2上不均匀的应力作用，模拟了光纤成缆或施工时外部因素造成的微弯。

在多次使用之后，砂纸2上砂粒逐渐被摩擦掉，因此，所述光纤盘本体1上的砂纸2采用胶水粘贴的方式固定，当砂纸2变旧，可以进行更换，使得光纤盘本体1能重复利用，节约材料。

其中，所述光纤盘本体1的半径≥140mm，光纤复绕在光纤盘本体1时，不会损坏光纤，避免了光纤产生宏弯衰减，保证测试结果的准确性。

为保证更贴近真实的模拟外部因素对光纤造成的微弯，所述砂纸2优选规格为P320的砂纸，粗糙程度与实际的工况接近。

如图2所示，所述光纤盘本体1上还设有卡线槽3以及与卡线槽3匹配的弹性压块4；所述弹性压块4塞入卡线槽3内，可以用弹性压块4将复绕在本专用光纤盘本上的待测光纤端头压在卡线槽内，避免松散脱落。需要指出的是，弹性压块4可以是海绵块、橡胶块或是软布块，能够将光纤端头压在卡线槽3内固定即可。

因此，当进行微弯测试时，可以由一组人员将待测光纤复绕在本专用光纤盘上，将固定有待测光纤的光纤盘运送到另一组人员进行实验的区域，工作效率更高，转运过程，待测光纤不会从光纤盘脱落。