[实用新型]一种近场电磁探头有效

专利信息
申请号: 201520931988.3 申请日: 2015-11-19
公开(公告)号: CN205120840U 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 魏伟;邹学文;丁燕;梁书芳 申请(专利权)人: 合肥联宝信息技术有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威;郭迎侠
地址: 230601 安徽省合肥市经*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 近场 电磁 探头
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种电磁探头,特别涉及一种近场电磁探头。

背景技术

在电磁兼容等需要对电磁辐射进行测量或诊断的领域,电磁辐射近场测试是基本的故障诊断技术手段,通过近场探头(主要为电场探头和磁场探头)配合频谱分析仪,对电磁辐射源的近场电场和磁场辐射分别进行测量。综合近场电场和磁场的测量结果诊断出电磁兼容三要素:辐射源、耦合路径和敏感源。但现有技术中的近场探头中的电场探头和磁场探头均为独立的个体,二者不能同时工作,也就是在测量电磁辐射源的电场分量和磁场分量时,需按需要更换探头,操作步骤繁琐。

另外,由于近场电磁辐射的电场分量和磁场分量的比值并不固定,所以近场测量的电场和磁场结果均不能单独反映出辐射源或辐射出去的电磁平面波能量。

针对上述问题,现有技术中通常采用以下两种解决方案:

方案1:根据辐射源的特性,以电场或磁场中较强的分量约略等效辐射源的辐射能量。

该方案的缺点是:因为电场或磁场分量中相对较弱的分量被略去,所以对测试的精确度产生了影响,尤其当相对较弱的分量与较强的分量可比拟时,测试结果会与实际结果有较大差异;

方案2:分别测量辐射源的电场分量和磁场分量,然后根据测试结果再综合分析辐射源电磁辐射能量。

该方案的缺点是:1、需要对电场分量和磁场分量分别进行测量,操作复杂度较高;

2、虽然有电场分量和磁场分量的两个测试结果,但是很难做到对辐射源能量实时、直观的观察与诊断。

实用新型内容

本实用新型所要解决的问题是,提供一种能够同时测量电场分量和磁场分量的近场电磁探头。

为了解决上述问题,本实用新型提供一种近场电磁探头,包括频谱分析仪和与所述频谱分析仪电连接的同轴线,所述同轴线上同时接有电场探测部和磁场探测部。

作为优选,所述电场探测部接于所述同轴线的内芯上,所述磁场探测部的一端与所述内芯电连接,另一端与所述同轴线的导电层电连接。

作为优选,位于所述磁场探测部和电场探测部间的所述内芯上还接有相位偏移电路。

作为优选,所述磁场探测部为磁场探圈。

作为优选,所述电场探测部为电导线。

本实用新型的近场电磁探头的有益效果在于:

1、可以同时测量出辐射源的电场分量和磁场分量,并进行同向叠加,无需判断辐射源的类型,也不需要分别测量电场分量和磁场分量,操作简便。

2、通过设置相位偏移电路能够在信号数据传输至频谱分析仪前将近场电磁探头直接测量出的电场分量和磁场分量进行同向叠加,以保证频谱分析仪不仅能够实时能反映出辐射源的辐射能量情况,且大幅提高对辐射源的辐射能量的情况分析的精确性。

附图说明

图1为本实用新型的近场电磁探头的结构示意图。

附图标记:

1-频谱分析仪;2-电场探测部;3-磁场探测部;4-相位偏移电路;5-同轴线;6-内芯;7-导电层

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型进行详细描述。

如图1所示,本实用新型公开一种近场电磁探头,包括频谱分析仪1和与频谱分析仪1电连接的同轴线5,进一步地,该同轴线5上还同时接有用于测量辐射源电场分量的电场探测部2和用于测量辐射源磁场分量的磁场探测部3。其中,电场探测部2接于同轴线5的内芯6上,磁场探测部3的一端与同轴线5的内芯6电连接,另一端与同轴线5的导电层7电连接以使电场探测部2、磁场探测部3、同轴线5和频谱分析仪1间形成完整的电流回路。

本实施例中的磁场探测部3为磁场探圈。电场探测部2为能够感应出辐射源电场的感应电动势的电导线。

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