[实用新型]一种小模液晶显示屏的测试结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示屏，尤其涉及一种小模液晶显示屏的测试结构。

背景技术

目前，民用和公用的液晶显示屏越来越薄和越小，现有液晶显示屏测试架一次只能测试一粒产品，为了携带方便，液晶显示屏已经用于每个家庭和个人。所以单粒的测试方法已经不能满足工厂的效率、和现在的市场要求，且采用单线单粒的方式驱动液晶显示屏的方式难以保证测试的准确率和产品的质量。为了克服现有的液晶显示屏生产企业的效率问题，我们提出一种小模液晶显示屏的测试结构，对液晶显示测试架进行改善，采用双粒测试的方式，并且能够提高液晶显示屏的测试效率，且有效的降低了工厂的测试成本。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种小模液晶显示屏的测试结构。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种小模液晶显示屏的测试结构，包括PCB菲林走线、第一定位区和第二定位区，所述PCB菲林走线通过排线连接有LCD电测机，且PCB菲林走线包括COM走线和SEG走线，所述COM走线包括第一COM走线和第二COM走线，且第一COM走线和第二COM走线分别连接第一定位区和第二定位区，所述SEG走线包括第一SEG走线和第二SEG走线，且第一SEG走线和第二SEG走线分别连接第一定位区和第二定位区，所述第一定位区和第二定位区内均设有测试元件。

优选的，所述COM走线包含8条支线，且第一COM走线和第二COM走线均由4条支线组成。

优选的，所述SEG走线包含8条支线，且第一SEG走线和第二SEG走线均由4条支线组成。

优选的，所述测试元件的上侧对应设置有双粒测试电测架。

优选的，所述COM走线中的COM线将多个背电极连在一起，形成公共背电极端，所述SEG走线中的SEG线将属于不同COM的段电极连接在一起，形成公共段电极端。

本实用新型中，通过改变COM测试线和SEG测试线的走线和连接方式，对液晶显示测试架进行改善，并设置了两个液晶显屏产屏定位区，能同时对两粒液晶显示屏进行测试，且采用单线双测的方式驱动液晶显示屏，不仅提高了效率，降低了工厂的测试成本，同时也保证测试的准确率和产品的质量。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种小模液晶显示屏的测试结构的PCB菲林走线图。

图中：1PCB菲林走线、2COM走线、3SEG走线、4第一COM走线、5第二COM走线、6第二SEG走线、7第一定位区、8第二定位区、9测试元件、10第一SEG走线。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参照图1，一种小模液晶显示屏的测试结构，包括PCB菲林走线1、第一定位区7和第二定位区8，定位区用于为液晶显示屏进行准确定位，所述PCB菲林走线1通过排线连接有LCD电测机，所述PCB菲林走线1包括COM走线2和SEG走线3，所述COM走线2包含8条支线，且第一COM走线4和第二COM走线5均由两条支线组成，所述SEG走线3包含4条支线，且第一SEG走线10和第二SEG走线6均由两条支线组成，所述COM走线2中的COM线将多个背电极连在一起，形成公共背电极端，所述SEG走线3中的SEG线将属于不同COM的段电极连接在一起，形成公共段电极端，当在某个COM和某个SEG之间加了足够的交流电压之后，就会将对应的段点亮，所述COM走线2包括第一COM走线4和第二COM走线5，且第一COM走线4和第二COM走线5分别连接第一定位区7和第二定位区8，所述SEG走线3包括第一SEG走线10和第二SEG走线6，且第一SEG走线10和第二SEG走线6分别连接第一定位区7和第二定位区8，所述第一定位区7和第二定位区8内均设有测试元件9，且测试元件9的上侧对应设置有双粒测试电测架，通过将液晶显示屏固定在双粒测试电测架上，由测试元件9驱动液晶显示屏进行测试。

本实用新型中，通过改变COM测试线和SEG测试线的走线和连接方式，设置两个液晶显屏产屏定位区，采用单线双测的方式驱动液晶显示屏，对液晶显示屏进行单线双侧，以此来提高液晶显示屏的测试效率。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。