[实用新型]一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置

权利要求书

1.一种计量信号产生装置，其特征在于，包括：

用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；

分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压给定装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；

与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。

2.如权利要求1所述的计量信号产生装置，其特征在于，所述DAC与所述电压跟随器之间还包括：

用于将所述初始模拟计量信号进行分压，得到分压计量信号的分压电路。

3.如权利要求1所述的计量信号产生装置，其特征在于，该装置还包括：

与所述电压跟随器连接的、用于对所述计量信号进行滤波，得到最终计量信号的第一RC低通滤波器。

4.如权利要求3所述的计量信号产生装置，其特征在于，该装置还包括：

分别与所述第一RC低通滤波器、所述MCU以及地连接的多路选择器，所述多路选择器的输出端与所述待测计量芯片连接，所述多路选择器用于依据所述MCU发送的控制信号选择地信号或者所述最终计量信号作为所述待测计量芯片的输入信号并将其输出至所述待测计量芯片。

5.如权利要求4所述的计量信号产生装置，其特征在于，该装置还包括：

与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接的、用于将所述待测计量芯片的输入信号反馈至所述MCU的信号反馈电路。

6.如权利要求5所述的计量信号产生装置，其特征在于，所述信号反馈电路包括：

与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接、用于对所述待测计量芯片的输入信号进行滤波，得到反馈信号的第二RC低通滤波器；

分别与所述第二RC低通滤波器、第二基准电压给定装置以及MCU连接的ADC，用于将所述反馈信号转换为离散反馈信号，并将所述离散反馈信号输出至所述MCU。

7.如权利要求1-6任一项所述的计量信号产生装置，其特征在于，所述MCU具体包括：

用于存储所述计量信号生成数据的数据存储模块；

与所述数据存储模块连接的、用于将所述计量信号生成数据乘以系数以调整幅值大小，得到第一计量信号生成数据的幅值调整模块；

与所述幅值调整模块连接的、用于将所述第一计量信号生成数据与一固定值相加得到带有偏置电压的第二计量信号生成数据的电压偏置模块；

与所述电压偏置模块连接的、用于控制所述第二计量信号生成数据按照预设频率输出，得到所述初始离散计量信号的定时模块。

8.一种计量芯片校验仪，其特征在于，包括如权利要求1-7任一项所述的计量信号产生装置。