[实用新型]一种电子元件平整度测试治具有效
| 申请号： | 201520954518.9 | 申请日： | 2015-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN205317144U | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 李冬根 | 申请（专利权）人： | 东莞荣光技研电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 东莞市说文知识产权代理事务所(普通合伙) 44330 | 代理人： | 欧阳剑 |
| 地址： | 523000*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 平整 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种电子元件平整度测试治具，其特征在于：其包括支撑座(1)、下滑本体(2)、盖板(3)，所述下滑本体(2)中部设有下滑轨道(21)，所述下滑轨道(21)前端开口为喇叭形状，所述支撑座(1)包括底板(11)，所述底板(11)两侧各安装有侧板(12)，所述下滑本体(2)固定安装于两侧板(12)上，所述下滑本体(2)的两侧都安装有盖板(3)，所述盖板(3)与下滑轨道(21)底部形成间隙，所述下滑本体(2)与底板(11)形成夹角。
2.根据权利要求1所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于：所述夹角的角度为40度至50度。
3.根据权利要求2所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于：所述夹角的角度为45度。
4.根据权利要求1至3任一项所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于：所述下滑本体(2)由不锈钢材料制成，表面抛光处理。
5.根据权利要求1至3任一项所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于：所述下滑轨道(21)底部还设有DIP导向槽(22)。
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