[实用新型]一种电子轰击型雪崩二极管

说明书

技术领域

本实用新型涉及的是一种能够探测电子并具有雪崩放大效应的电子轰击型雪崩二极管，属于光电探测与粒子探测技术领域。

背景技术

光电探测领域凭借其广泛的应用前景和巨大的战略价值，目前已经成为各国大力发展的关键技术领域。在种类众多的光电探测器中，混合型光电探测器是20世纪90年代才发展起来的一种新型光电探测器，它融合了真空光电器件与半导体光电器件的优点，同时弥补了后两类缺点与不足，广泛应用于高能物理、医疗仪器、生物检测、量子通信、天文观察以及激光测距等领域。

混合型光电探测器的整管结构采用类似真空光电器件的金属-陶瓷结构，阴极采用真空器件的光电阴极，阳极采用半导体探测器，工作时光电阴极上产生的光电子经加速后轰击在半导体材料的表面，产生数千倍的增益，轰击产生的电子-空穴对被半导体探测器结区收集后实现信号输出。因此，混合型光电探测器兼具了真空器件光敏面面积大、灵敏度高、响应速度快、噪声低、增益高和半导体器件动态范围大、功耗低等优点。

然而目前国内外用于光电探测的雪崩二极管均为雪崩光电二极管（APD），在器件结构与制作工艺上与能用于混合型光电探测器中的半导体器件有着本质的不同，传统APD表面生长有起钝化与增透作用的钝化层，因而半导体器件结区无法对阴极产生的光电子实现收集，更无法实现信号输出。

发明内容

本实用新型提出的是一种电子轰击型雪崩二极管，其目的在于克服现有技术所存在的上述缺陷，针对器件工作特点，采用能对电子响应的电子轰击型雪崩二极管，对阴极光电子实现收集并放大输出。

本实用新型的技术解决方案：一种电子轰击型雪崩二极管，其特征在于：在n型Si衬底（6）上依次为p型Si外延层（4）、p型Si重掺杂层（1）、正面电极（2），SiO₂氧化层（5）位于p型Si外延层（4）和p型Si重掺杂层（1）的表面和侧面，玻璃钝化层（3）位于SiO₂氧化层（5）之上，背面电极（7）位于n型Si衬底（6）的下方。

本实用新型的优点在于：本结构的器件可实现半导体结区对入射电子的收集，同时器件工作在雪崩电压下，可实现对结区收集电子的雪崩放大，制备工艺简便，暗电流低，可靠性高，克服了传统雪崩光电二极管无法实现电子探测的缺点，可用于混合型光电探测器的制备及入射信号为电子的直接探测。

附图说明

图1是一种电子轰击型雪崩二极管的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，一种电子轰击型雪崩二极管，其特征在于：在n型Si衬底（6）上依次为p型Si外延层（4）、p型Si重掺杂层（1）、正面电极（2），SiO₂氧化层（5）位于p型Si外延层（4）和p型Si重掺杂层（1）的表面和侧面，玻璃钝化层（3）位于SiO₂氧化层（5）之上，背面电极（7）位于n型Si衬底（6）的下方。

所述n型Si衬底（6），电子浓度为1×10¹⁸cm^-3至1×10¹⁹cm^-3，厚度为200μm；

所述p型Si外延层（4），掺杂浓度为1×10¹⁴cm^-3至1×10¹⁵cm^-3，厚度为10~30μm；

所述p型Si重掺杂层（1），采用热扩散或离子注入，掺杂浓度为5×10¹⁸cm^-3至5×10¹⁹cm^-3，厚度为0.5~1.0μm，用于电子轰击的表面无钝化层覆盖；

所述正面电极（2），为Ti/Pt/Au电极，形状为环形电极，采用溅射方法制作在p型Si重掺杂层（1）上；

所述SiO₂氧化层（5），采用热氧化方法生长，厚度为200~500nm，该氧化层用于钝化n型Si衬底（6）、p型Si外延层（4）及p型Si重掺杂层（1）的表面与侧面、降低暗电流；

所述玻璃钝化层（3），厚度为10~30μm，该钝化层用于加厚SiO₂氧化层并填充器件台面台阶。

实施例1：电子轰击型雪崩二极管的制作方法，包括