[实用新型]用于无磁插座的测试探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试探针，尤其涉及一种用于无磁插座的测试探针。

背景技术

现有的半导体测试探针一般原材料都含有铁、镍、钴或其中的一种元素。 这样就导致了探针主动或被动的都带有磁性。然而对于一些对无磁要求的应用 场合，就无法满足要求。由于现有的半导体测试探针是主要由铜合金，钢琴丝 (或不锈钢丝)经镀镍工艺加镀金工艺而成。由于基材和镀层里含有铁，镍、 钴成分。在使用过程中很容易带有磁性或被磁化，因此无法适用于对零磁性要 求的场合。由于现有的探针材料，镀层技术的限制，无法满足零磁性要求探针。 因此发明一种无磁探针，解决半导体测试中。

实用新型内容

为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种符合对零磁性的要求、 避免探针的磁性对测试结果的影响、满足测试要求的用于无磁插座的测试探针。

为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于无磁插座的 测试探针包括筒状针保持体、上探针头、下探针头以及弹簧，下探针头通过挤 压的方法固定在筒状针保持体内的一端，所述上探针头则通过挤压的方法固定 在筒状针保持体内的一端，所述弹簧设置在上探针头与下探针头之间，所述筒 状针保持体的材质为磷青铜，所述上探针头、下探针头、弹簧的材质为铍青铜。 本实用新型的有益效果是，由于这种新型探针采用无铁、镍、钴基材制作而成， 并且采用特殊镀金工艺，因此整个探针不带有磁性，从而满足无磁要求的测试 场合，有效的保证了测试的要求和准确性，解决了现有技术中探针对无磁测试 的困难，满足的测试的功能，解决了半导体无磁测试的要求。

优选地，所述上探针头、下探针头均包括本体和头部，所述头部的外径大 于本体的外径，每个所述本体均朝向与其对应的筒状针保持体端部，所述筒状 针保持体的两端各设置有一圈用以缩小筒状针保持体口径的卷边，所述卷边能 供本体通过。卷边保证上探针头、下探针头不会从筒状针保持体内脱落。

附图说明

图1为本实施例的立体图。

图中：

1-筒状针保持体；2-上探针头；3-下探针头；4-弹簧；5-卷边；61-本体； 62-头部。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型 的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围 做出更为清楚明确的界定。

参见附图1所示，本实施例中的一种用于无磁插座的测试探针，包括筒状针 保持体1、上探针头2、下探针头3以及弹簧4，下探针头3通过挤压的方法固定在 筒状针保持体1内的一端，上探针头2则通过挤压的方法固定在筒状针保持体1内 的一端，弹簧4设置在上探针头2与下探针头3之间，筒状针保持体1的材质为磷 青铜，上探针头2、下探针头3、弹簧4的材质为铍青铜。该测试探针采用磷青铜 和铍青铜作为基材，从而确保探针中无内部接触技术是铁、镍、钴或其中的一 种元素，从而达到无磁的要求。

上探针头2、下探针头3均包括本体61和头部62，头部62的外径大于本 体61的外径，每个本体61均朝向与其对应的筒状针保持体1端部，筒状针保 持体1的两端各设置有一圈用以缩小筒状针保持体1口径的卷边5，卷边5能供 本体61通过。结合附图1，将筒状针保持体1的一头卷边，将下探针头3先放 进筒状针保持体1中，再将弹簧4装在筒状针保持体1中，最后放上上探针头2， 并用将筒状针保持体1的另一头卷边，这样上探针头2、下探针头3、弹簧4就 保持在筒状针保持体1中掉不出来，这样就完成了一个无磁探针，由于本实施 例不含磁性材料，能适用于任何无磁要求的场合。

以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉 此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型 的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在 本实用新型的保护范围内。