[实用新型]分立器件的测试转接装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试转接工装，具体涉及一种分立器件的测试转接装置。

背景技术

在制得半导体分立器件成品后，需要对分立器件进行电性能测试，即在分立器件测试过程中，需要将测试设备的测试线通过测试转接头与物料分选设备的测试座相连接，然后对测试座上的分立器件进行电性能测试；所述测试转接头包括公母接头，母接头与物料分选设备的测试座固定连接，公接头与测试设备的测试线是焊接连接的，这样，当机台变更或产品变更需要调整测试线与公接头的焊接位置，就必须先将已有的测试线与公接头的焊接处熔融后再按照新的技术要求，调整两者之间的焊接位置并将两者焊接连接，这样，不仅浪费了测试人员的时间，使得测试效率低，而且长时间这样重复焊接会影响公接头的使用寿命。

发明内容

本实用新型的目的是：提供一种不仅省时省力、无需焊接连接，而且测试效率高的分立器件的测试转接装置，以克服现有技术的不足。

为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是：一种分立器件的测试转接装置，包括转接座、第一测试片副、第二测试片副、第一紧固螺钉和第二紧固螺钉；而：

所述转接座具有第一连接凹腔和第二连接凹腔，且转接座内沿其长度方向插入有两排测试插针，第一排为第一测试插针，第二排为第二测试插针，在第一连接凹腔内有由与第一测试插针连接的第一动测试片，和与转接座连接的第一定测试片有间距相对布置所组成的第一测试片副，在第二连接凹腔内有由与第二测试插针连接的第二动测试片，和与转接座连接的第二定测试片有间距相对布置所组成的第二测试片副；

所述第一紧固螺钉穿过第一动测试片并指向第一定测试片，所述第二紧固螺钉穿过第二动测试片并指向第二定测试片。

在上述技术方案中，所述转接座的两端均具有与其互为一体或固定连接的连接耳，且连接耳上设有定位安装孔。

在上述技术方案中，所述转接座具有与其互为一体或固定连接的保护罩，且保护罩位于第一测试插针和第二测试插针的外周，所述保护罩为腰圆形。

在上述技术方案中，所述第一测试插针和第二测试插针的个数均为2~20个。

本实用新型所具有的积极效果是：采用本实用新型的测试转接装置后，使用时，根据测试的技术要求，将测试设备的测试线的一端伸入到第一连接凹腔和/或第二连接凹腔内的动测试片和定测试片之间的缝隙中，然后通过第一紧固螺钉和/或第二紧固螺钉将测试片副与测试线紧固连接，即可对分立器件进行电性能测试，这样，本实用新型取代了已有技术中测试线需要与接头焊接连接的结构，不仅省时省力、无需焊接连接，而且测试效率高，实现了本实用新型的目的。

附图说明

图1是本实用新型一种具体实施方式的结构示意图；

图2是图1的后视示意图；

图3是图1的右视示意图；

图4是图1的俯视示意图；

图5是图1的仰视示意图；

图6是图4的A-A剖视示意图。

具体实施方式

以下结合附图以及给出的实施例，对本实用新型作进一步的说明，但并不局限于此。

如图1、2、3、4、5、6所示，一种分立器件的测试转接装置，包括转接座1、第一测试片副2、第二测试片副3、第一紧固螺钉4和第二紧固螺钉5；而：

所述转接座1具有第一连接凹腔1-1和第二连接凹腔1-2，且转接座1内沿其长度方向插入有两排测试插针，第一排为第一测试插针6-1，第二排为第二测试插针6-2，在第一连接凹腔1-1内有由与第一测试插针6-1连接的第一动测试片2-1，和与转接座1连接的第一定测试片2-2有间距相对布置所组成的第一测试片副2，在第二连接凹腔1-2内有由与第二测试插针6-2连接的第二动测试片3-1，和与转接座1连接的第二定测试片3-2有间距相对布置所组成的第二测试片副3；

所述第一紧固螺钉4穿过第一动测试片2-1并指向第一定测试片2-2，所述第二紧固螺钉5穿过第二动测试片3-1并指向第二定测试片3-2。

如图1、2、4、5所示，为了便于与测试设备定位安装，所述转接座1的两端均具有与其互为一体或固定连接的连接耳1-3，且连接耳1-3上设有定位安装孔1-3-1。

如图1、3、4、5、6所示，为了防止测试插针与外界硬物发生碰撞导致折弯变形，所述转接座1具有与其互为一体或固定连接的保护罩1-4，且保护罩1-4位于第一测试插针6-1和第二测试插针6-2的外周，所述保护罩1-4为腰圆形。