[实用新型]一种具有部分埋氧结构的IGBT有效
申请号: | 201520989870.6 | 申请日: | 2015-12-03 |
公开(公告)号: | CN205264711U | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 陈利;徐承福;高耿辉;姜帆 | 申请(专利权)人: | 厦门元顺微电子技术有限公司;大连连顺电子有限公司;友顺科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06 |
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地址: | 361008 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 部分 结构 igbt | ||
1.一种具有部分埋氧结构的IGBT,其特征在于,包括:
N-型基区(1);
位于所述N-型基区(1)下表面内两侧的两个埋氧(4);
位于所述N-型基区(1)下表面内中部、所述两个埋氧(4)之间的背P+ 发射区(3);
位于所述N-型基区(1)上表面内两侧的两个P型基区(2);
位于所述两个P型基区(2)上表面内中部的两个N+集电区(5);
位于所述N-型基区(1)上表面以及所述P型基区(2)和N+集电区(5) 部分上表面的栅氧化层(6);
位于所述栅氧化层(6)上表面的多晶栅(7)。
2.根据权利要求1所述的一种具有部分埋氧结构的IGBT,其特征在于: 还包括位于所述P型基区(2)和N+集电区(5)另一部分上表面的发射极(9)。
3.根据权利要求2所述的一种具有部分埋氧结构的IGBT,其特征在于: 所述发射极(9)和栅氧化层(6)之间有间隙。
4.根据权利要求1所述的一种具有部分埋氧结构的IGBT,其特征在于: 还包括位于所述多晶栅(7)上表面的栅电极(10)。
5.根据权利要求1所述的一种具有部分埋氧结构的IGBT,其特征在于: 还包括位于所述背P+发射区(3)和埋氧(4)下表面的集电极(8)。
6.根据权利要求1所述的一种具有部分埋氧结构的IGBT,其特征在于: 所述埋氧(4)为二氧化硅。
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