[实用新型]密度计校准系统有效

专利信息
申请号: 201520995642.X 申请日: 2015-12-03
公开(公告)号: CN205246476U 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 陈超云;王金涛;李之昊;刘翔;刘子勇;佟林;暴雪松;张培满 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01N9/00 分类号: G01N9/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民;廉莉莉
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 密度计 校准 系统
【权利要求书】:

1.一种密度计校准系统,其特征在于,包括:

校准液体,所述校准液体置于容器中;

悬挂部件,所述悬挂部件与待校准密度计连接,用于调整所述待校准密度 计在所述校准液体中的竖直位置;以及

成像装置,设置于所述容器外部、所述校准液体的液面下方,用于对所述 待校准密度计进行成像。

2.根据权利要求1所述的密度计校准系统,其特征在于,还包括标尺,用 于测量所述成像装置形成的图像的尺寸。

3.根据权利要求2所述的密度计校准系统,其特征在于,所述标尺是对称 刻线标尺,所述对称刻线标尺的零点位于所述对称刻线标尺的中间,所述对称 刻线标尺的刻度从所述零点等间隔的向两侧分布。

4.根据权利要求3所述的密度计校准系统,其特征在于,所述待校准密度 计上设置有刻线,当所述待校准密度计置于所述校准液体中时,所述成像装置 形成的图像中包括所述校准液体的液面、所述待校准密度计在所述液面下方的 第一个整数刻线及其相对于所述液面对称的镜像刻线。

5.根据权利要求4所述的密度计校准系统,其特征在于,所述标尺的零点 与所述图像中的校准液体的液面对齐。

6.根据权利要求1所述的密度计校准系统,其特征在于,所述成像装置是 CCD成像装置。

7.根据权利要求1所述的密度计校准系统,其特征在于,所述成像装置与 所述待校准密度计和所述液面的交点的距离为200mm至400mm,所述成像装 置与水平方向的夹角为20至40度。

8.根据权利要求7所述的密度计校准系统,其特征在于,所述成像装置与 所述待校准密度计和所述液面的交点的距离为300mm,所述成像装置与水平方 向的夹角为30度。

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