[实用新型]承载装置及其适用的测试机台

说明书

技术领域

本实用新型关于一种承载装置，尤指一种承载装置及其适用的测试机台。

背景技术

随着科技的发展，越来越多的电子产品被生产以及使用，为了有效控管每 一项产品的品质及性能，在生产时往往需要进行相对应的测试，其中射频测试 是电子领域中普遍应用的产品测试方式之一。

一般而言，为了使电子产品于进行射频测试时可固定于射频测试装置上， 射频测试装置多设有承载装置以固定电子产品，方便射频测试的进行。

同一尺寸的承载装置仅能固定相同尺寸的电子产品，因此，传统上在进行 不同尺寸产品的射频测试时，需使用尺寸相对应的承载装置，方能有效的固定 电子产品于射频测试装置上。

然而，现今电子产品的种类众多，其尺寸各不相同，因此在进行不同产品 的射频测试时，需要耗费时间更换相对应的承载装置，才能够继续进行测试。 除此的外，电子产品从研发至生产以至于产品寿命结束的周期极短，每次新产 品的开发，都需要针对新产品设计新的承载装置以满足测试需求，射频测试的 成本便随的增加。

故此，如何发展一种有别于往的承载装置及其适用的测试机台，以改善常 用技术中的问题与缺点，并能节省射频测试的时间与成本，实为目前技术领域 中的重点课题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，俾解决 先前技术中，每次开发新产品时均须重新设计并制造测试治具，所导致的耗费 时间及成本的缺点。

本实用新型的另一目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，通过可 移动的支撑件及承载模块的设置，当进行测试时，可调整承载装置所能承载的 尺寸大小，以节省测试时更换相对应的承载装置的时间，并减少生产承载装置 的成本。

本实用新型的另一目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，通过可 移动的层板及基板的设置，当进行测试时，可调整测试装置与待测物的间的距 离及位置，以寻找最佳的测试位置，提高测试的效能。

本实用新型的另一目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，其中承 载装置及测试机台所使用的材料均选用非金属材质，可大幅减少对测试性能的 干扰。

为达上述目的，本实用新型的一较佳实施例为提供一种承载装置，包括： 一框架；一第一支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的两相对 侧边相连接；一第二支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的所 述两相对侧边相连接；以及多个承载模块，分别可移动地设置于所述第一支撑 件及所述第二支撑件，以承载一待测物。

在本实用新型的一个实施例中，所述框架具有多个第一孔洞，所述第一支 撑件具有多个第二孔洞，且所述第二支撑件具有多个第三孔洞，其中所述多个 第一孔洞沿一第一方向同时形成于所述两相对侧边，所述多个第二孔洞沿一第 二方向及一第三方向形成于所述第一支撑件，且所述多个第三孔洞沿所述第二 方向及所述第三方向形成于所述第二支撑件，其中所述第二方向与所述第一方 向相垂直，且所述第三方向与所述第一方向平行。

在本实用新型的一个实施例中，承载装置还包括多个第一连接件以及多个 第二连接件，其中每一个所述第一连接件可选择地穿设于所述多个第二孔洞之 一及所述多个第一孔洞之一，以连接所述第一支撑件与所述框架，且每一个所 述第二连接件可选择地穿设于所述多个第三孔洞之一及所述多个第一孔洞之 一，以连接所述第二支撑件与所述框架。

在本实用新型的一个实施例中，承载装置还包括多个第三连接件，其中每 一个所述第三连接件可选择地穿设于所述多个第二孔洞之一或所述多个第三孔 洞之一，且每一个所述承载模块以至少一个所述第三连接件与所述第一支撑件 或所述第二支撑件相连接。

在本实用新型的一个实施例中，每一个所述承载模块上具有多个穿孔，每 一个所述第三连接件可选择地穿设于所述多个穿孔之一及所述多个第二孔洞之 一，以连接所述承载模块与所述第一支撑件，或每一个所述第三连接件可选择 地穿设于所述多个穿孔之一及所述多个第三孔洞之一，以连接所述承载模块与 所述第二支撑件。

在本实用新型的一个实施例中，每一个所述承载模块具有一承载表面及一 限位平台，其中所述限位平台自部分的所述承载表面延伸而出，用以对承载于 所述承载表面的所述待测物加以限位。