[实用新型]一种调节测量流道间隙的浸入式超声测量装置有效
申请号: | 201521015647.8 | 申请日: | 2015-12-09 |
公开(公告)号: | CN205209449U | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 晋刚;邹伟健;林晓楷;胡鑫 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01B17/00 | 分类号: | G01B17/00 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 罗观祥 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 调节 测量 间隙 浸入 超声 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及聚合物超声学测试技术领域,尤其涉及一种调节测量流 道间隙的浸入式超声测量装置。
背景技术
聚合物加工成型过程中由于成型的需要,通常在聚合物熔体的流动过程 中加入一定的粒子作为增强组分,以提高成型材料的制品性能和降低成本, 然而,聚合物熔体组分间分散状态等微观结构产生的影响,最终会影响聚合 物制品的尺寸、形状、物理特性等宏观性能。如何了解分散状态,并根据现 有分散状态及时的调整工艺,第一时间反馈实际的生产参数,使工作人员能 够及时调整预设的工艺参数,降低次品、废品率,从而减少不必要的能量损 耗和资源浪费,达到环保节能的目的,是聚合物加工过程的关键,这一点目 前尚在研究中。传统的超声在线测量方法,还只是建立把探头固定在模头上, 测得声学参数,利用这些参数,来计算增强粒子在熔体中流动分散状态,然 而,由于聚合物高粘度及探头精度的影响,采集到的超声信号并不能反映局 部分散状态,测得的数据并不尽如人意,最终给工艺调整带来困难。因此, 开发出一种可调节测量流道间隙,以探测局部区域的超声测量装置具有巨大 的发展前景。
发明内容
本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点和不足,提供一种调节 测量流道间隙的浸入式超声测量装置。本实用新型为聚合物增强粒子粒度分 散的检测提供了检测方案,解决了当前聚合物加工领域无法实时定量表征聚 合物基复合材料增强粒子分散性特别是局部分散性的问题。
本实用新型通过下述技术方案实现:
一种调节测量流道间隙的浸入式超声测量装置,包括测量头I和可调距装 置II;
所述测量头I包括测量头本体3,在测量头本体3的端部,沿其径向开设 有一使熔体通过的狭缝流道1,在狭缝流道1的一侧开设有探头通道,探头通 道内设有带包覆层的缓冲杆2,缓冲杆2内固定安装超声探头4;所述探头通 道的轴线与狭缝流道1的轴线相垂直;
缓冲杆2固定在可调距装置II上,可调距装置II上设有位移传感器6; 可调距装置II带动缓冲杆2沿探头通道轴向运动,实现超声探头4相对于狭 缝流道1径向方向的距离可调。
所述狭缝流道1的截面形状为矩形。
所述可调距装置II包括上座9-1、底座9、安装在底座9上的伺服电机11、 通过联轴器13安装在伺服电机11转轴上的丝杆14、安装在丝杆14上的丝母 7,安装在上座9-1与底座9之间导轨8,丝母7的两侧与导轨8滑动连接; 所述位移传感器6安装在丝母7上;
当伺服电机11带动丝杆14转动时,丝母7沿着丝杆14轴向运动,带动 位移传感器6及缓冲杆2沿其轴向运动,并通过位移传感器6得到超声探头4 相对于狭缝流道1径向方向的距离数据,即与超声探头4相对的狭缝流道1 另一侧内壁面的距离。
超声探头4固定安装在缓冲杆2的末端。
所述超声探头4连接外部的超声波发射/接收装置,超声波发射/接收装置 通过电缆线连接计算机。
所述缓冲杆2的包覆层为不锈钢管。所述联轴器13上安装有止推轴承 12。所述可调距装置II还包括一外罩10。
将测量头本体3伸入聚合物熔体中,聚合物熔体由狭缝流道1的一端进 入,再由另一端流出;当伺服电机11带动丝杆14转动时,丝母7沿着丝杆 14轴向运动,带动位移传感器6及缓冲杆2沿其轴向运动;
超声探头通过探头线与超声波发射/接收装置和计算机相连,计算机控制 超声波发射/接收装置发射的频率和强度;超声信号由超声波发射/接收装置发 射经超声探头射入聚合物熔体,超声信号在聚合物熔体内部传播,并到达超 声探头4相对的狭缝流道另一侧内壁面反射后,再次经缓冲杆传送被超声探 头接收,接收到的信号通过数据采集与处理系统并代入模型,计算得出被测 聚合物熔体增强粒子分散性指标,实现粒度分布的实时测量。
本实用新型相对于现有技术,具有如下的优点及效果:
本实用新型在测量头本体的端部,沿其径向开设有一使熔体通过的狭缝 流道,在狭缝流道的一侧开设有探头通道,探头通道内设有带包覆层的缓冲 杆,缓冲杆内固定安装超声探头;所述探头通道的轴线与狭缝流道的轴线相 垂直;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201521015647.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多功能OLED显示测量工具
- 下一篇:一种无线精密应变测量装置