[实用新型]带匹配负载的开关装置有效

专利信息
申请号: 201521016207.4 申请日: 2015-12-08
公开(公告)号: CN205159710U 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 郑兆祥 申请(专利权)人: 成都天大仪器设备有限公司
主分类号: H01R29/00 分类号: H01R29/00;H01R13/66;H01R13/70;H01R13/73;H01R13/46;G01R1/04;G01R27/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 匹配 负载 开关 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及无线通信技术领域,具体涉及一种带匹配负载的开关装置。

背景技术

随着集成电路技术的改进和对性能要求的提高,多端口器件的使用日益普遍。为了保 证产品的正常运行,需要对多端口器件的传输、反射、隔离等射频特性进行测试。通常需 要利用矢量网络分析仪对器件的特性进行测量,早期的矢量网络分析仪一般只有两个测试 端口,为了对多端口器件进行测量,就需要在被测器件的各个端口之间多次变换测试电缆 和端接匹配负载,直到完成对所有端口的测量。为了提高测试效率,同时测试多端口器件 特性,通常利用多端口测试装置将矢量网络分析仪的2端口扩展为4、6、8或12端口。 在多端口测试装置在测试过程中,由于多端口测试装置的电路设计原理及误差模型修正方 式决定了在实际测试时,只对选中的端口进行测试及校准,而未被选中的端口并没有进行 测试及校准。因为特性参数是在所有端口匹配无反射的情况下测量得到的数据,所以被测 试的多端口器件上未被选中的端口也必须连接匹配负载。在现有技术中通常利用外接电缆 将匹配负载连接到被测器件上未被选中的端口上,由于外接电缆传输距离相对较长对选中 端口测试存在电磁干扰,出现测试曲线出现波动现象,影响测试结果的准确性。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种带匹配负载的开关装置,本装置结构简单,散热性能良 好,安装稳固,它将匹配负载设置开关装置内的线路板上,通过切换开关实现多端口器件 的相应端口与多端口测试装置或匹配负载直接信号连通,本装置能够消除测试曲线的波动 现象,测试多端口器件的插损、回波损耗等指标曲线会更平滑、真实的反映器件的特性, 提高测试结果的准确性。

本实用新型的目的是采用以下技术方案实现的:一种带匹配负载的开关装置,包括壳 体,在壳体相对的两侧壁上分别设有与待测的多端口器件电连接的测试端接头以及与多端 口测试装置电连接的连接端接头,所述测试端接头、连接端接头由设置在壳体内的开关控 制电路引出,所述开关控制电路设置在一线路板上,所述线路板内嵌在壳体的限位卡槽中, 所述开关控制电路在线路板上还设置有匹配负载、切换开关,所述切换开关具有一控制端, 所述控制端基于开关控制电路接收到的外部指令使切换开关动作,以切换测试端接头与匹 配负载之间或测试端接头与连接端接头之间的连通状态,在线路板上连有为开关控制电路 供电的电源连接线,在壳体侧壁上设有绝缘子,电源连接线经所述绝缘子穿出且与外部电 源连通,在壳体的顶部设有用于散热的百叶窗口,在壳体的底部设有用于固定壳体的吸盘。

本实用新型的工作原理:当测试一个多端口器件时,与多端口测试装置相连接的矢量 网络分析仪内的软件会自动控制接到多端口测试装置的测试端口数,通过在连接多端口测 试装置和多端口器件之间设置带匹配负载的开关装置,切换开关接收控制端基于开关控制 电路接收到的外部指令动作,当多端口器件上的测试端口被选中时,切换开关将测试端接 头与连接端接头通过开关控制电路连通,多端口器件上的测试端口与多端口测试装置信号 连通;当多端口器件上的测试端口未被选中时,切换开关将测试端与匹配负载通过开关控 制电路连通,多端口器件上的测试端口与匹配负载连通,并且通过电源连接线为线路板提 供电源,设置在壳体上的绝缘子提高了装置的安全性,设置在壳体顶部的百叶窗口改善了 装置的散热性能,延长了装置的使用寿命,设置在壳体底部的吸盘使得装置的安装更加稳 固,在对多端口器件特性测试的过程中,待测多端口器件上未被选中的端口与设置在线路 板上的匹配负载通过切换开关直接连通,不需要通过外部电缆将匹配负载连接到未被选中 的端口上,避免了连接电缆在传输过程中产生的电磁干扰进而的引发测试曲线波动现象, 在多端口器件与多端口测试装置之间设置开关装置后测试多端口器件的插损、回波损耗等 指标曲线会更平滑、真实的反应器件的特性,最终提高测试结果的准确性。

由于采用了上述技术方案,本实用新型具有以下优点:本装置结构简单,散热性能良 好,安装稳固,它将匹配负载设置开关装置内的线路板上,通过切换开关实现多端口器件 的相应端口与多端口测试装置或匹配负载直接信号连通,本装置能够消除测试曲线的波动 现象,测试多端口器件的插损、回波损耗等指标曲线会更平滑、真实的反映器件的特性, 提高测试结果的准确性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为开关控制电路结构示意图。

具体实施方式

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