[实用新型]一种形位公差检具有效

专利信息
申请号: 201521017362.8 申请日: 2015-12-10
公开(公告)号: CN205262386U 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 杨涛;徐宏荣;李方庆 申请(专利权)人: 重庆市乐尔佳机械有限公司
主分类号: G01B5/252 分类号: G01B5/252;G01B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 409000 重庆市黔*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 公差
【权利要求书】:

1.一种形位公差检具,包括检验平台、托台和定位块,其特征在于上述检验平台的底面四个角部各设有一个活动顶尖;托台用外六角螺栓固定安装设置在检验平台的表面上;定位块用内六角螺栓固定安装设置在托台上;检验平台的表面上还设置有磁力表座,表座上设有支架,支架上装设有百分表,该百分表与定位块对应,用于检测内圆与定位孔的同轴度。

2.根据权利要求1所述的形位公差检具,其特征在于所述检验平台为基准平面,其平面度为0.04mm,粗糙度为0.8um。

3.根据权利要求1所述的形位公差检具,其特征在于所述托台为精基准面,其两端面的平行度为0.005mm,粗糙度为0.8um。

4.根据权利要求1所述的形位公差检具,其特征在于所述定位块为定位基准,其下端面与外圆的垂直度为0.005mm,粗糙度为0.8um。

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