[实用新型]智能卡分检装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及智能卡检测制作领域，特别是指智能卡分检装置。

背景技术

现有的智能卡出料方式通常采用卡片重叠后利用皮带输送过程摩擦出卡，是不可能避免表面有划花现象。

2、现有的智能卡检测采用单张检测，出一张检测一张的方式，只能基本满足单一内码读取或简单的数据写入。

3、完成信息数据后通过移动U盘将数据复制给激光设备进行二次摩擦出料再进行激光打码。

4、现有的这种生产流程过于单一，每小时完成产量约打1000张智能卡。效率不高，缺少写入或转换后信息二次较验，这种单一环节生产的方式显然存在劳动强度大、废品率高、效率低的问题。

5现有智能卡行业从原来的磁条式、ID、IC简单芯片记忆量已不能满足用户需要。

实用新型内容

本实用新型提出智能卡分检装置，解决了上述中提到的问题。

本实用新型的技术方案是这样实现的：智能卡分检装置，包括：机体和安装在所述机体上的分卡机构、传输机构、芯片检测装置、芯片扇区检测装置、打码装置、工业视觉扫描装置、坏卡分检收集装置、成品自动收集装置，所述传输机构水平位于所述机体上，所述传输机构的一端设有垂直的入卡槽，另一端设有垂直的出卡槽，所述分卡机构为气吸式分卡装置，位于所述入卡槽末端，所述坏卡分检装置位于与所述出卡槽同位于所述传输机构末端，所述芯片检测装置、所述芯片山区检测装置，所述工业扫描装置位于所述分卡装置后方，所述打码装置位于所述工业扫描装置后方。

进一步，所述机体上还设有触摸屏显示器，便于显示和操作。

进一步，所述传输机构上方，位于所述入卡槽与所述出卡槽之间，设有防尘架，所述防尘架上设有可开阖的防尘盖。

本实用新型的所述智能卡分检装置，通过上述连接关系和结构，并采用了所述气吸式分卡装置，解决了摩擦出卡表面有划痕的现象，并且，所述智能卡分检装置可以完成分开、读卡、打码、收集等一系列功能，提高了工作效率，降低了劳动强度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型智能卡分检装置一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1所示，智能卡分检装置，包括：机体1和安装在机体1上的分卡机构（图中未示出）、传输机构3、芯片检测装置2、芯片扇区检测装置、打码装置5、工业视觉扫描装置4、坏卡分检收集装置6、成品自动收集装置，传输机构3水平位于机体1上，传输机构3为传输带，其一端设有垂直的入卡槽7，另一端设有垂直的出卡槽8，分卡机构为气吸式分卡装置，位于入卡槽8末端，坏卡分检装置6位于与出卡槽8同位于传输机构3末端，芯片检测装置2、芯片山区检测装置，工业扫描装置4位于分卡装置后方，打码装置5位于工业扫描装置4后方。

进一步，机体上还设有触摸屏显示器9。

进一步，传输机构上方，位于入卡槽与出卡槽之间，设有防尘架10，防尘架10上设有可开阖的防尘盖11。

本实用新型可快速的对智能卡芯片进行加密检测，特别适合银行业使用的CPU芯片、交通使用的超高频芯片、IC芯片全扇检测等大数据量写入，并将坏卡分检剔除、芯片内码不同格式转换激光打码，视觉扫描激光码后芯片内码关联并较验、错码的分检剔除成品自动收集工序全部在该设备上一次性完成，每分钟可完成4500张或以上。采用该系统设备进行生产，只需一个操作者便可轻松完成所有工序，能有效减少劳动力、提高检测的效率及生产的效率，节约了生产的成本，实现全自动化生产等优点。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。