[实用新型]一种晶片强度检测装置

权利要求书

1.一种晶片强度检测装置，包括检测台（11），其特征在于：检测台（11）的一端设置在第 一底座（12）上，第一底座（12）上设有第一支撑柱（13），第一支撑柱（13）呈竖直布置，检测台 （11）的一端设置在第一支撑柱（13）上；检测台（11）的另一端设置在第二底座（14）上，第二 底座（14）上设有第二支撑柱（15），第二支撑柱（15）呈竖直布置，检测台（11）的另一端设置 在第二支撑柱（15）上；检测台（11）设有检测槽（16）；检测台（11）的一端上设有第一支撑杆 （17），第一支撑杆（17）为弧形形状，第一支撑杆（17）的端部设有第一限位板（18），第一限位 板（18）呈水平布置，第一限位板（18）的下方设有第一锁片（19），第一限位板（18）插接有第 一锁杆（20），第一锁杆（20）的下端与第一锁片（19）连接，第一锁杆（20）的上端为自由端；检 测台（11）的另一端上设有第二支撑杆（22），第二支撑杆（22）为弧形形状，第二支撑杆（22） 的端部设有第二限位板（23），第二限位板（23）的下方设有第二锁片（24），第二限位板（23） 插接有第二锁杆（25），第二锁杆（25）的下端与第二锁片（24）连接，第二锁杆（25）的上端为 自由端；第一限位板（18）与第二限位板（23）之间设有扣杆（27），扣杆（27）设有导向管（28）， 导向管（28）呈竖直布置，导向管（28）内套装有压管（29），导向管（28）的下端设有旋管（30）， 旋管（30）与压管（29）通过螺纹连接，压管（29）的下端设有压头（31），检测台（11）上设有第 一压力传感片（32）与第二压力传感片（33），第一压力传感片（32）设置在第一锁片（19）的下 方，第二压力传感片（33）设置在第二锁片（24）的下方，检测台（11）设有压力检测器（34），第 一压力传感片（32）、第二压力传感片（33）分别与压力检测器（34）连接。

2.根据权利要求1所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第一锁杆（20）的上端设有第 一旋帽（21）。

3.根据权利要求2所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第一旋帽（21）的外表面设有 防滑纹。

4.根据权利要求1所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第二锁杆（25）的上端设有第 二旋帽（26）。

5.根据权利要求4所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第二旋帽（26）的外表面设有 防滑纹。