[实用新型]一种带有圆锥形测试体的测试针

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种带有圆锥形测试体的测试针。

背景技术

现有技术下在对一些PCB板上插件孔的侧壁上设置有焊盘，此类插件孔的焊盘在进行导通测试时，因测试针的测试端完全插入插件孔内且测试端端壁完全与插件孔的孔壁接触，很容易造成焊盘磨损，或因插件孔的孔径偏大而造成接触不良，测试不稳定等诸多异常。

实用新型内容

本实用新型提供了一种能够减少测试磨损，且测试稳定可靠的测试针。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种带有圆锥形测试体的测试针，包括套管、设置于所述套管一端的弹性测试头、以及设置于所述套管另一端的固定杆，所述弹性测试头包括设置于所述套管内的弹簧，以及滑动设置于所述套管一端的探头，所述探头包括圆柱体部、与所述圆柱体部平滑过渡连接的圆锥台部、以及与所述圆锥台部平滑过渡连接的球头部，所述圆柱体部的直径略大于待测孔的孔径。

其中，所述圆柱体部、所述圆锥台部、及所述球头部同轴一体设置。

其中，所述圆柱体部、所述圆锥台部、及所述球头部采用导电金属棒一体车削而成。

其中，所述圆柱体部的下端延伸设置于所述套管内，且所述圆柱体部的下端设置有与所述套管内壁滑动配合的凸缘，所述凸缘底部的套管腔体内设置有所述弹簧。

本实用新型的有益效果：本实用新型包括套管、设置于所述套管一端的弹性测试头、以及设置于所述套管另一端的固定杆，所述弹性测试头包括设置于所述套管内的弹簧，以及滑动设置于所述套管一端的探头，所述探头包括圆柱体部、与所述圆柱体部平滑过渡连接的圆锥台部、以及与所述圆锥台部平滑过渡连接的球头部，所述圆柱体部的直径略大于待测孔的孔径。此结构设计的测试针，可使得球头部及圆锥台部预先插入待测试插件孔内，随着压力的增加，使得圆锥台部与圆柱体部之间的平滑过渡处与待测试插件孔内的焊盘导通，从而有效减少了测试接触面积，提高了测试稳定性。

附图说明

图1是本实用新型一种带有圆锥形测试体的测试针的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图1所示并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

一种带有圆锥形测试体的测试针，包括套管1、设置于所述套管1一端的弹性测试头、以及设置于所述套管1另一端的固定杆3，所述弹性测试头包括设置于所述套管1内的弹簧4，以及滑动设置于所述套管1一端的探头5，所述探头5包括圆柱体部51、与所述圆柱体部51平滑过渡连接的圆锥台部52、以及与所述圆锥台部52平滑过渡连接的球头部53，所述圆柱体部51的直径略大于待测孔的孔径。

进一步优选的，所述圆柱体部51、所述圆锥台部52、及所述球头部53同轴一体设置。

进一步优选的，所述圆柱体部51、所述圆锥台部52、及所述球头部53采用导电金属棒一体车削而成。

进一步优选的，所述圆柱体部51的下端延伸设置于所述套管1内，且所述圆柱体部51的下端设置有与所述套管1内壁滑动配合的凸缘，所述凸缘底部的套管1腔体内设置有所述弹簧4，作为优选，套管和固定杆可设置为一体，套管的开口端设置有和圆柱体部相套接的端盖，端盖与套管可采用焊接方式紧固。

采用上述结构设计的测试针，可使得球头部及圆锥台部预先插入待测试插件孔内，起到预定位的作用，随着压力的增加，再使得圆锥台部与圆柱体部之间的平滑过渡处与待测试插件孔内的焊盘导通，从而有效减少了测试接触面积，提高了测试稳定性。

以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。