[实用新型]一种数字集成芯片测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试仪，尤其涉及一种数字集成芯片测试仪。

背景技术

数字集成电路在高校的实验教学中得到广泛地应用。为了提高学生的 实践创新能力和实践动手能力，很多高校每个学期都要开设数字电路实验 课程。在这些实验教学活动中，需要使用大量的数字集成芯片。然而，在 实验教学过程中，由于学生对实验数字集成芯片使用不当，而造成芯片损 坏数量越来越大。目前市场上的专用的数字集成电路测试仪，不仅体积庞 大，而且价格昂贵，不可在实验室中普及与应用。因此，设计快速高效和 成本低廉的数字集成芯片测试仪，具有重要的实现意义。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本实用新型提供了一种数字集成芯片测 试仪。

本实用新型提供了一种数字集成芯片测试仪，包括测试模块、控制器 单元、处理器单元和总线，其中，所述测试模块、控制器单元、处理器单 元分别与所述总线连接，所述测试模块包括数字集成电路测试核心模块和 集成电路测试IC座，所述数字集成电路测试核心模块与所述集成电路测试 IC座连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述集成电路测试IC座包括三极管 Q1、二极管D1、继电器T1和IC插座，所述三极管Q1的发射极接地，所 述三极管Q1的集电极分别与所述二极管D1、继电器T1连接，所述二极管 D1、IC插座分别与所述继电器T1连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述IC插座的第16脚接电源，第8 脚接地。

作为本实用新型的进一步改进，所述IC插座的第7脚与继电器T1的 第1脚相连，并通过继电器T1的常闭端口2接地，继电器T1的常开端3 与所述数字集成电路测试核心模块的输入引脚相连。

作为本实用新型的进一步改进，所述控制器单元包括JTAG控制器、UART 控制器、EPCS控制器、LCD控制器、SDRAM控制器、PIO控制器，所述JTAG 控制器、UART控制器、EPCS控制器、LCD控制器、SDRAM控制器、PIO控制 器分别与所述总线连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述EPCS控制器连接有EPCS4存储器， 所述SDRAM控制器连接有SDRAM存储器。

作为本实用新型的进一步改进，所述UART控制器连接有USB转换芯片， 所述USB转换芯片连接有PC机，所述JTAG控制器与所述PC机连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述LCD控制器连接有LCD显示器， 所述PIO控制器连接有键盘。

作为本实用新型的进一步改进，所述总线为Avalon-MM总线。

作为本实用新型的进一步改进，所述处理器单元为NiosII处理器。

本实用新型的有益效果是：通过上述方案，具有快速高效和成本低廉 的优点。

附图说明

图1是本实用新型一种数字集成芯片测试仪的硬件框图。

图2是本实用新型一种数字集成芯片测试仪的集成电路测试IC座的电 路图。

具体实施方式

下面结合附图说明及具体实施方式对本实用新型进一步说明。

图1至图2中的附图标号为：数字集成电路测试核心模块1；集成电路 测试IC座2；IC插座21；EPCS控制器3；EPCS4存储器4；NiosII处理器 5；PIO控制器6；键盘7；SDRAM控制器8；SDRAM存储器9；LCD控制器10； LCD显示器11；JTAG控制器12；UART控制器13；USB转换芯片14；PC机 15。

如图1所示，一种数字集成芯片测试仪，包括测试模块、控制器单元、 处理器单元和总线，其中，所述测试模块、控制器单元、处理器单元分别 与所述总线连接，所述测试模块包括数字集成电路测试核心模块1和集成 电路测试IC座2，所述数字集成电路测试核心模块1与所述集成电路测试 IC座2连接。

如图2所示，所述集成电路测试IC座2包括三极管Q1、二极管D1、 继电器T1和IC插座21，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1 的集电极分别与所述二极管D1、继电器T1连接，所述二极管D1、IC插座 21分别与所述继电器T1连接。

如图2所示，所述IC插座21的第16脚接电源，第8脚接地。