[实用新型]具xyθz对位机构的检测装置及具多维对位机构的检测装置

说明书

技术领域

本实用新型与测试机有关，特别是有关于一种具xyθz对位机构的检测装 置及具多维对位机构的检测装置。

背景技术

现今电子产品基于小型化及容积空间的考量，皆朝向轻薄短小的趋势发 展，其中电路板可密集的配置电路结构，并也可依照空间改变形状做成立体配 线减少电子产品体积，因此电路板为常被采用的方式之一。

通常，电路板在制造完成之后，例如在设置被动元件如电容、电感、电阻 或晶片等电子元件之后，会进行电性检测，以确认电路板是否能正常地运作， 从而将检测结果为正常的电路板筛选出来，并淘汰检测结果为异常的电路板， 藉此可以减少误用不良电路板的机率，以确保产品的良率。

一般已知的测试机台，例如TWI343481所揭露者，其是通过将测试针板 滑设于机台上的四支滑杆，藉以达到该测试针板可上下移动来进行电路板测 试。此类已知测试针板的配置方式仅能进行Z轴方向的移动，然而，一般电路 板的电路结构众多且日趋微小，且在制造过程中可能会产生一些位置偏差，因 此只有Z轴方向移动能力的测试机台即无法精确对位及有效地进行检测。

因此，有必要提供一种新颖且具有进步性的具xyθz对位机构的检测装置 及具多维对位机构的检测装置，以解决上述的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种具xyθz对位机构的检测装置及具多维对位 机构的检测装置，其可实现xyθz、高自由度、高精度、快速的检测作业。

为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案：

一种具xyθz对位机构的检测装置，它包括：

一机台，包括一第一基座，该第一基座设有一供置放一电路板的承载部， 该承载部所在平面定义一XY平面，且定义一垂直于该XY平面的Z轴方向；

一第一xyθz对位机构，设于该机台且位于该第一基座相对上方，可沿该 Z轴方向移动及可平行于该XY平面而移动；

一第一检测模组，设于该第一xyθz对位机构，供检测置放于该承载部上 的电路板。

所述机台另包括一与所述第一基座间隔设置的第二基座，所述第一xyθz 对位机构包括一设于所述第一与第二基座之间且可沿所述Z轴方向移动的第 一移动平台、一设于所述第一移动平台且可平行于所述XY平面而移动的第一 xyθz对位平台、以及一设于所述第一xyθz对位平台的第一换模机构，所述 第一检测模组被固定于所述第一换模机构上。

所述第一xyθz对位平台包括一设于所述第一移动平台的第一平台、一可 沿一X轴方向移动地设于所述第一平台上的第二平台、一可沿一Y轴方向移 动地设于所述第二平台上的第三平台、以及一可平行于所述XY平面转动地设 于所述第三平台上的第四平台，所述第一换模机构设于所述第四平台。

所述第一换模机构包括至少一承接所述第一检测模组的架体及至少一可 调整地设于所述至少一架体的固定件，该至少一固定件固定该第一检测模组。

在所述第一基座另设有一第二xyθz对位机构，该第二xyθz对位机构可 沿所述Z轴方向移动及可平行于所述XY平面而移动，其中在该第二xyθz对 位机构上另设有一第二检测模组，所述第一及第二检测模组供相互配合地检测 所述电路板，其中该第二xyθz对位机构包括一设于所述第一xyθz对位机构 与所述第一基座之间且可沿所述Z轴方向移动的第二移动平台、一设于所述第 二移动平台且可平行于所述XY平面而移动的第二xyθz对位平台、以及一设 于所述第二xyθz对位平台的第二换模机构，该第二检测模组被固定于所述第 二换模机构上。

所述的具xyθz对位机构的检测装置另包括一取送机构及一取像机构，所 述取送机构设于所述机台且供取送所述电路板朝所述第一基座移动，所述取像 机构可移动地设于该机台，其中该取送机构供取一该电路板并移动该电路板至 相对于该取像机构位置而由该取像机构撷取一影像，该取送机构并供将经取像 后的该电路板移至所述承载部而供所述第一检测模组进行检测。

所述取送机构包括一供置放所述至少一电路板的供料装置、一可移动地设 于所述机台的输送装置、及一设于该机台且可移动于所述供料装置与所述输送 装置之间的第一取料手臂，该第一取料手臂供自该供料装置取一所述电路板并 移至该输送装置，该输送装置供将该电路板移至相对于所述取像机构位置、而 后将经取像后的该电路板朝所述第一基座移动。