[实用新型]小口径管轧制缺陷超声波探测装置

说明书

本申请是申请号为：2015207341810，申请日为2015年9月18日，实用新型名称为：小口径管轧制缺陷超声波探头及配套使用的试块、申请人为：安徽省特种设备检测院的实用新型专利申请的分案申请。

技术领域

本实用新型涉及无损检测技术领域，特别涉及一种应用在锅炉受热面上的小口径管轧制缺陷超声波探头。

背景技术

锅炉受热面管轧制缺陷通常有表面划道、裂纹、折迭、翘皮、横裂及分层等，其危害最大的主要有裂纹、分层、折迭，它直接影响管子的加工工艺性能，并威胁管子的安全使用性能。

由于锅炉管子的壁厚T与直径D的比值T/D通常小于0.20，加之管壁较薄，难以采用直探头或斜探头以直接接触法进行超声波检测；目前普遍采用探测方法是单晶直探头水侵法或双晶直探头水侵法，但这类方法探测工艺复杂、灵敏度低，且无法对在役运行的管排进行检测。

实用新型内容

本实用新型是为避免上述现有技术所存在的不足之处，提供一种方便快捷的小口径管轧制缺陷超声波探头，以实现锅炉受热面上管排的快速扫查，并保证检测结果的准确性。

本实用新型为解决技术问题采用如下技术方案：

本实用新型小口径管轧制缺陷超声波探测装置的结构特点是：所述探测装置包括探头和配套设置的结构调整试块；

所述探头的结构形式是：设置探头壳体，所述探头壳体的内腔由隔声层分隔为左右对称的入射腔和出射腔，在所述探头壳体中设置晶片，所述晶片分别是位于入射腔中的入射晶片，以及位于出射腔中的出射晶片，所述入射晶片和出射晶片具有相同的结构和性能参数，并且是以所述隔声层为中心对称设置，以所述入射晶片和出射晶片构成一收一发的双晶片探头，超声波检测信号通过所述双晶片探头在被测管管壁中产生直通波回波信号，对于所述超声波检测信号与直通波回波信号进行比较实现小口径管轧制缺陷的检测；

所述配套设置的结构调整试块是以#20碳钢为材质的板件，板件的一端是曲率半径为r的圆弧边，圆弧边的圆弧长度为πr，r为被测管的外圆半径；板件的另一端是曲率半径为R的渐开线边，并有R>r，在所述板件中设置有贯通板件厚度的直径为1mm的通孔。

本实用新型小口径管轧制缺陷超声波探测装置的结构特点也在于：利用所述双晶片探头在被测管外侧管壁进行移动，实现对被测管的全管长的缺陷检测。

本实用新型小口径管轧制缺陷超声波探测装置的结构特点也在于：所述晶片采用钛酸铅陶瓷晶片，所述直通波回波信号在被测管中反射次数为16次、14次、12次或10次。

与已有技术相比，本实用新型有益效果体现在：本实用新型属于超声波检测原理，利用一收一发双晶片探头直通波原理，将探头直接接触在锅炉受热面管上进行扫查并实现在线检测，根据直通波的衰减情况判断缺陷，能实现管排的快速扫查，检测结果准确可靠。

附图说明

图1a、图1b和图1c为本实用新型检测原理图；

图2为本实用新型中探头入射角计算原理图；

图3a和图3b分别为本实用新型中灵敏度调整试块的纵剖和断面示意图；

图4a和图4b分别为本实用新型中结构调整试块的主视和侧视示意图；

图5为本实用新型探头结构示意图；

图中标号：1晶片，2被测管，3灵敏度调整试块，4结构调整试块，5内壁槽，6外壁槽，7为V槽，8通孔，9探头壳体，10隔声层，11冲水管。

具体实施方式

参见图5，本实施例中小口径管轧制缺陷超声波探头的结构形式是：设置探头壳体9，探头壳体9的内腔由隔声层10分隔为左右对称的入射腔和出射腔，在探头壳体中设置晶片1，晶片1分别是位于入射腔中的入射晶片，以及位于出射腔中的出射晶片，入射晶片和出射晶片具有相同的结构和性能参数，并且是以隔声层10为中心对称设置，以所述入射晶片和出射晶片构成一收一发的双晶片探头，超声波检测信号通过双晶片探头在被测管2的管壁中产生直通波回波信号，对于超声波检测信号与直通波回波信号进行比较实现小口径管轧制缺陷的检测，利用双晶片探头在被测管2的外侧管壁上进行移动，实现对被测管2的全管长的缺陷检测。

晶片1采用钛酸铅陶瓷晶片，直通波回波信号在被测管2中反射次数可以设置为16次、14次、12次或10次。