[实用新型]一种新型测试座有效
申请号: | 201521070548.X | 申请日: | 2015-12-21 |
公开(公告)号: | CN205246709U | 公开(公告)日: | 2016-05-18 |
发明(设计)人: | 罗小珊;谢后勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市邦乐达科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人: | 尹怀勤 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 测试 | ||
1.一种新型测试座,其特征在于,包括:底座,设于底座上的托盘, 底部金属托盘,由两根或以上的探针组成的探针组,上部金属托盘,上盖; 所述底部金属托盘设于托盘的上表面内,上部金属托盘设于上盖的底部表面 内,所述探针组的下端穿过底部金属托盘后位于托盘内,探针组的上端穿过 上部金属托盘后位于上盖内;所述上部金属托盘及底部金属托盘位于底座与 上盖相结合后形成的空间内。
2.如权利要求1所述的一种新型测试座,其特征在于,还进一步包括一 限位块,所述限位块嵌设于上盖上表面内的下沉座内。
3.如权利要求1所述的一种新型测试座,其特征在于,所述托盘的上 表面内设有方形下沉座,底部金属托盘设于方形下沉座内。
4.如权利要求3所述的一种新型测试座,其特征在于,所述方形下沉 座底部设有穿孔,且底部的两侧及两端边缘处均设有探针孔。
5.如权利要求2所述的一种新型测试座,其特征在于,设于上盖内的 下沉座的底部设有穿孔,且下沉座底部设有复数个探针孔,所述探针孔围合 而成一个圈体,所述穿孔位于这个圈体内。
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