[实用新型]一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器

权利要求书

1.一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，包括：激光器，其用于发射激光作为输入光；起偏器，其作用于输入光而输出竖直偏振光；电光晶体，其响应于电压作用于输入光场的相位；1/4波片，其作用于竖直偏振光在光场分量上的相位；检偏器，其响应于输入光而输出水平偏振光；相位检测器，其作用于光场的分量输出其相位差；控制器，其作用相位信号输出电压信号；其特征在于：所述电压检测器所有元件固定在同一光轴，从左起依次排列激光器、起偏器、电光晶体、1/4波片、检偏器、相位检测器和控制器。

2.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述激光器为氦-氖激光器，其输出波长为632.8纳米，功率为350毫瓦。

3.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述起偏器为全透射型竖直偏振片，方向为竖直向上的x轴方向，作用于通过起偏器入射的激光输出竖直偏振光。

4.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述电光晶体为ADP晶体，其中电光晶体通光方向和电场方向一致，形成纵向电光强度调制，标准光折射率为1.418，波长为0.546微米，半波电压为9.20U_π/kV，室温下的电光系数为γ₄₁=28.0X10^-12（m/V）和γ₆₃=8.5X10^-12（m/V）；所述电光晶体在外加电场的作用下，折射率发生变化，入射光在主轴方向的分量产生相位延迟。

5.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述1/4波片为一种双折射玻璃薄片，其入射光沿主轴方向的两个分量的位相差增加π/2。

6.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述检偏器为水平偏振片，偏振方向为水平向外的y轴方向，作用于入射光输出水平偏振光。

7.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述相位检测器作用于入射激光，输出沿主轴方向两个分量的相位角。

8.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：所述控制器包含单片机，显示器和示波器；其中单片机装有系统程序和算法，输入示波器的位相差数值，输出电压数值；显示其总用语单片机的译码信号输出数值；示波器响应于位相相位角和光波信号输出相位角值。

9.如权利要求1所述的一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其特征在于：激光入射方向为z方向，竖直向上方向为x轴，水平向外方向为y轴；电光晶体自身半波电压固定于U_π；示波器整流滤波获得的位相差为δ；单片机系统设定电压值为U，算法获取的公式为U=（δ·U_π）/π。