[实用新型]用于测量元素含量的设备有效
| 申请号： | 201521105255.0 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN205352974U | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 程建平;曾志;马豪;李君利;苏川英 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 李志东 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 元素 含量 设备 | ||
1.一种用于测量元素含量的设备，其特征在于，包括：
第一探头，所述第一探头设置有原级X射线发生装置；
第二探头，所述第二探头设置有特征X射线检测装置；
屏蔽-准直装置，所述屏蔽-准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头相连；以及
分析装置，所述分析装置与所述第二探头相连。
2.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述第一探头和所述第二探头被设置为适于插入疏松介质中。
3.根据权利要求2所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述疏松介质为土壤。
4.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述原级X射线发生装置为X射线放射源、X射线发生器的至少之一。
5.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述特征X射线检测装置为Si-Pin探测器、SDD探测器的至少之一。
6.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，进一步包括准直孔，所述准直孔设置在所述屏蔽-准直装置上。
7.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，进一步包括：
壳体，
其中，所述原级X射线发生装置、所述特征X射线检测装置、所述屏蔽-准直装置设置在所述壳体中。
8.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，进一步包括：
电源，所述电源分别与所述第一探头、第二探头和所述分析装置相连。
9.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，进一步包括：
数据线，所述数据线分别连接所述分析装置与所述第二探头。
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