[实用新型]安检设备

权利要求书

1.一种安检设备，包括壳体和壳体内部的部件，壳体内部的部件包 括：

采样系统，采样系统包括用于采集样品的样品采集装置和用以将被 检物体从外界传送至样品采集装置内期望的位置处的传送装置；

样品处理系统，用于浓缩样品和解析样品；和

检测系统，用于检测样品成分；

其中，采样系统、样品处理系统以及检测系统通过连接件依次连通， 使得被送入壳体内的被检物体在壳体内完成样品的采集、处理和检测； 其特征在于，

样品采集装置包括采样模块和伸缩结构；其中，采样模块包括多个 吸气采样口和多个热气流吹扫口，多个热气流吹扫口配置为吹出设定温 度的气流，多个吸气采样口配置为在负压条件下吸入含样品的气体；并 且，伸缩结构配置为承载采样模块并且根据待检物品的形状作出相应的 伸缩动作将多个吸气采样口和多个热气流吹扫口靠近待检物品的表面。

2.如权利要求1所述的安检设备，其特征在于，伸缩结构通过相应 的伸缩动作将多个吸气采样口和多个热气流吹扫口靠近待检物品的表面 从而构成取样通道，被检物体能够在通过所述取样通道进行取样分析。

3.如权利要求1所述的安检设备，其特征在于，伸缩结构包括多个 波纹气囊单元，其中每个波纹气囊单元通过充气和排气实现伸缩动作， 从而将连接至该每个波纹气囊单元的一个或多个吸气采样口或一个或多 个热气流吹扫口输送至待检物品表面附近。

4.如权利要求1所述的安检设备，其特征在于还包括X射线成像系 统，成像系统包括X射线发生器及L形阵列探测器，通过设置L形阵列 探测器探测投射通过待检物品后的X射线构造投影图像，其中L形阵列 探测器能够探测出待检物品的长度、宽度和高度；

其中伸缩结构能够根据L形阵列探测器构造的投影图像作出相应的 伸缩动作将多个吸气采样口和多个热气流吹扫口靠近待检物品的表面。

5.如权利要求3所述的安检设备，其特征在于，每个气囊单元前端 设置测距传感器，配置成测量相应的气囊单元前端距离待检物品表面的 距离，从而在气囊单元前端距离待检物品表面的距离符合设定距离值时 停止相应的气囊单元的运动，以实现近距离取样。

6.如权利要求3所述的安检设备，其特征在于，每个波纹气囊单元 设置气囊单元阀，用于控制相应的波纹气囊单元的充气和排气以便实现 每个气囊单元的伸缩动作。

7.如权利要求1所述的安检设备，其特征在于，多个吸气采样口和 多个热气流吹扫口在待检物品的移动方向上前后成阵列布置，使得在待 检物品的运动方向上，多个热流吹扫口设置在多个吸气采样口上游，并 且多个热流吹扫口的开口方向设置为朝向待检物品的运动方向，多个吸 气采样口的开口方向设置为朝向待检物品的运动方向的反方向，以便采 样。

8.如权利要求7所述的安检设备，其特征在于，多个吸气采样口的 阵列和多个热气流吹扫口的阵列之间的间距布置成使得样品从待检物体 上被吹扫离开后运动到多个吸气采样口附近。

9.如权利要求1所述的安检设备，其特征在于还包括分隔装置， 用于将相邻待检物品分隔开。

10.如权利要求9所述的安检设备，其特征在于，分隔装置包括单档 杆分隔器，在前一待检物品通过安检设备时阻挡后一待检物品预定的阻 挡时长。

11.如权利要求2所述的安检设备，其特征在于，采样模块包括安 装在多个吸气采样口的每个过滤结构，用于防止大颗粒堵塞或污染与多 个吸气采样口连接的管道。

12.如权利要求1所述的安检设备，其特征在于，传送装置包括传 送带，用于承载待检物品从安检设备的入口端进入，从安检设备的出口 端离开。

13.如权利要求6所述的安检设备，其特征在于还包括控制装置， 配置成控制气囊单元阀从而控制气囊单元的充气和排气。