[实用新型]温度检测箱

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测箱，特别是一种温度检测箱。

背景技术

目前对存储装置，如固态硬盘的高温测试，一次只能测试一台，且测试的温度不可调节，只能对同一个温度进行测试。

实用新型内容

鉴于以上内容，有必要提供一种可以一次检测多个待测装置的温度检测箱。

一种温度检测箱，用以模拟一高温测试环境，其特征在于：所述温度检测箱包括一箱体、一安装在所述箱体内的安装架及一中控系统，所述安装架包括若干层相对设置的滑轨及滑动安装在相对的滑轨之间的收容框，每一收容框用以收容若干待测装置，所述中控系统用以调节所述箱体内的测试温度。

相较于现有技术，在上述温度检测箱中，箱体内的安装架包括若干层相对设置的滑轨及滑动安装在相对的滑轨之间的收容框，每一收容框用以收容若干待测装置，这样就可以同时检测多个数量的待测装置。

附图说明

图1是本实用新型温度检测箱一实施方式的立体结构图。

图2是图1中一收容框及若干测试架的立体结构示意图。

图3是图1中一显示屏的显示画面。

图4是图1中一中控系统的结构框图。

图5是图1中一待测装置的结构框图。

主要元件符号说明

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

请参阅图1及图2，本实用新型一温度检测箱用以模拟一高温测试环境。所述温度检测箱包括一箱体200、一安装架20、一中控系统30、一显示屏40及若干操作外设50。在一实施方式中，所述温度检测箱用以检测若干待测装置100的高温性能。

所述安装架20安装在所述箱体200内，包括若干层相对设置的滑轨21及滑动安装在相对的滑轨21之间的收容框23。在一实施方式中，所述安装架20可以并排装设两收容框23，且设有3层相对的滑轨21。每一收容框23用以收容若干待测装置100，且在内壁上装设若干对应于各个待测装置10的电源接口231。所述待测装置100可以是相同的也可以是不同的，只要待测的温度相同即可。在一实施方式中，所述电源接口231是圆形接口或SATA接口。

请同时参阅图3，所述显示屏40安装在所述箱体200上，用以显示目前的检测状况及供使用者设置使用温度等参数。使用者还可以通过所述显示屏40点击查看公司介绍、操作说明及故障说明等。

请同时参阅图4，所述中控系统30包括一主控模块31及一温控模块33。所述主控模块31用以接收设定的参数后驱使所述温控模块33工作，从而将所述箱体200内的温度维持在设定的温度。

所述操作外设50包括有连接所述中控系统30的键盘和滑鼠，用以选择需要的操作，包括查看公司介绍及输入设定的参数等。

所述温度检测箱还包括若干放置在每一收容框23中测试架10。在一实施方式中，所述待测装置100为存储装置，优选的为固态硬盘。每一测试架10包括一基座11及安装在所述基座11上的一连接电路板12。每一连接电路板12用以电连接若干待测装置100。在一实施方式中，每块连接电路板12电连接10个待测装置100。

每一连接电路板12上安装一电源插接端121、若干分开关123、若干接口插槽125及若干指示灯127。在一实施方式中，所述若干接口插槽125平行排列，所述分开关123大致排列在同一条直线上，所述若干指示灯127也大致排列在一条直线上。所述电源插接端121与对应的电源接口231插接在一起，且连接每一分开关123。每一接口插槽125对应连接其中一分开关123及其中一指示灯127。每一接口插槽125用以对应插接其中一待测装置100。

请同时参阅图5，所述待测装置100包括一控制器101及一flash103。所述控制器101内设置一存储模块112。所述存储模块112中存储有boot程序及测试程序。所述flash103中存储有温度数据。在一实施方式中，所述测试程序用以检测所述flash103中是否存在坏块及坏块的位置。所述测试程序还可以是用以检测所述flash103的读写性能等。