[实用新型]应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置有效

专利信息
申请号: 201521127606.8 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN205317884U 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 黄晓波;张国驹;刘炳 申请(专利权)人: 北京天诚同创电气有限公司
主分类号: G01R31/07 分类号: G01R31/07
代理公司: 北京金律言科知识产权代理事务所(普通合伙) 11461 代理人: 罗延红;杨移
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 应用于 igbt 模块 中的 熔断器 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置,其特征在于,包括:一个IGBT半桥臂模块(1)、第一连接支路(S1)和第二连接支路(S2);以及在所述第一连接支路(S1)或所述第二连接支路(S2)上设置的熔断器接入端口(2);所述IGBT半桥臂模块(1)的上、下桥臂连接;所述第一连接支路(S1)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的桥臂中点连接、另一端与三相交流电源的A相连接;所述第二连接支路(S2)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的B相连接。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:第三连接支路(S3),所述第三连接支路(S3)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的C相连接;当所述第二连接支路(S2)上设置有所述熔断器接入端口(2)时,所述第三连接支路(S3)一端通过所述熔断器接入端口(2)与所述IGBT半桥臂模块(1)的下桥臂连接。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括串联单元,所述串联单元包括依次串联连接的电感(L)、电阻(R)和第一开关装置(K1);所述第一连接支路(S1)及所述第二连接支路(S2)上设置有所述串联单元,或者,所述第一连接支路(S1)、所述第二连接支路(S2)及所述第三连接支路(S3)上设置有所述串联单元,各所述串联单元中的所述第一开关装置(K1)的一端与所述三相交流电源连接。

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,每一所述串联单元包括依次串联连接的第二开关装置(K2)、所述电感(L)、所述电阻(R)及所述第一开关装置(K1)。

5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置中还包括所述三相交流电源。

6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,所述第一开关装置(K1)和所述第二开关装置(K2)为触点开关或单刀开关。

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