[实用新型]二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光谱测试技术领域，尤其涉及一种二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置。

背景技术

二代红外探测器组件是目前国际上主流的红外焦平面探测器组件，其芯片采用半导体材料制成。由于芯片的响应波长与半导体材料中的材料组分密切相关，不同波长的二代红外探测器组件其对相同能量辐射的响应也不一致，因此，响应波长也决定了整个二代红外探测器组件的响应均匀性。由于半导体材料的组分不均匀在生产过程中难以避免，所以二代红外探测器组件天然存在响应的不均匀性，而该不均匀性是影响红外成像的关键。常规的二代红外探测器组件光谱测试方法采用的是单色仪，利用单色仪发出的单色光照射到探测器芯片上，采集探测器芯片被照射区域的电压值，进行相对光谱的测试，测试方法和原理已形成了国标，编号为GB/T17444-2013，名称为《红外焦平面阵列参数测试方法》。但是采用单色仪测试存在以下问题：测试时间长，测试一支二代面阵红外探测器组件的光谱所需时间超过30分钟；测试像元数量少，仅可测试被单色光照射的像元，若选取面积大，单色光的辐射存在较大的误差；测试一次仅可测试一个像元或多个像元的平均光谱响应，无法测试全部像元的光谱响应，无法表征光谱的响应均匀性。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是，提供一种二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置，能够对二代面阵红外探测器组件的全部像元进行快速光谱测试。

本实用新型采用的技术方案是，所述二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置，包括：傅里叶光谱仪、测试驱动控制器、模拟采集卡以及光谱处理模块；

测试驱动控制器为二代面阵红外探测器组件提供工作时所需的脉冲与电能；所述二代面阵红外探测器组件接收傅里叶光谱仪发射的光，并转换成所述二代面阵红外探测器组件各个像元输出的电压信号；模拟采集卡对所述电压信号进行采集，并将所述电压信号输入到光谱处理模块；所述光谱处理模块对所述电压信号进行处理，得到所述二代面阵红外探测器组件各个像元的光谱曲线，并根据所述光谱曲线对所述二代面阵红外探测器组件各个像元的光谱一致性进行判断。

进一步的，所述测试驱动控制器包括：脉冲驱动电路板和偏置电压驱动电路板；所述脉冲驱动电路板与二代面阵红外探测器组件的脉冲驱动端连接，向所述二代面阵红外探测器组件提供工作时所需的脉冲；所述偏置电压驱动电路板与二代面阵红外探测器组件的偏置电压端连接，向所述二代面阵红外探测器组件提供工作时所需的电能。

进一步的，所述测试驱动控制器还包括输出波形调整板，所述输出波形调整板的输入端与二代面阵红外探测器组件的电压信号输出端连接，所述输出波形调整板的输出端与模拟采集卡连接；所述输出波形调整板用于对所述二代面阵红外探测器组件输出的电压信号的波形进行调整以降低所述电压信号的噪声。

进一步的，所述装置还包括同步信号模块，所述同步信号模块对傅里叶光谱仪、二代面阵红外探测器组件和模拟采集卡输入同步信号，使得所述傅里叶光谱仪、二代面阵红外探测器组件和模拟采集卡在同步信号的作用下同步工作。

采用上述技术方案，本实用新型至少具有下列优点：

本实用新型所述的二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置，能够对二代面阵红外探测器组件进行快速光谱测试，与使用单色仪对二代红外探测器组件进行光谱测试相比，本实用新型中测试一支二代面阵型探测器组件的光谱所需时间从原来的30分钟缩短到5分钟。此外，在本实用新型中使用傅里叶光谱仪的光谱测试结果与使用单色仪的光谱测试结果相比，光谱截止波长相差0.01μm。本实用新型中的测试装置可对二代面阵红外探测器组件的全部像元进行光谱响应测试。

附图说明

图1为本实用新型实施例的二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置的组成结构示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对本实用新型进行详细说明如后。

本实用新型实施例，一种二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置，如图1所示，包括：

傅里叶光谱仪10、测试驱动控制器30、模拟采集卡40以及光谱处理模块50；