[实用新型]反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置有效

专利信息
申请号: 201521129979.9 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN205643181U 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: 姜宏振;郑芳兰;刘勇;刘旭;李东;杨一;陈竹;任寰;张霖;周信达;郑垠波;原泉;石振东;巴荣声;李文洪;于德强;袁静;丁磊;马可;马玉荣;冯晓璇;陈波;杨晓瑜 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 赵宇
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 反射 波长 合成 孔径 全息 光学 元件 表面 检测 装置
【权利要求书】:
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