[实用新型]一种光谱分析仪的检测平台有效
申请号: | 201521136785.1 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN205262944U | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 马增 | 申请(专利权)人: | 天津速伦科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 | 代理人: | 王秀奎 |
地址: | 300384 天津市滨海新区滨海高新区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光谱分析 检测 平台 | ||
技术领域
本实用新型属于光谱分析装置技术领域,具体涉及一种光谱分析仪的检测平台。
背景技术
在光谱分析时,通常都是在光谱分析仪采光位置固定不变的情况下进行的,因此为 了保证光谱分析的可靠性和精度,需要保证光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一 致性(即保证光谱分析仪采光位置和待测样品表面之间的距离一致),但是由于样品的 大小形状不可能完全相同,所以很难保证每次光谱分析时光谱分析仪的采光高度与样品 表面位置相一致。
此外,在光谱分析时,样品通常放置于密闭环境中,一次放置一块样品进行分析, 无法对多种小样品进行采集和分析,分析速度慢,分析效率低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种光谱分析仪的检测平台。
本实用新型是通过以下技术方案实现的:
一种光谱分析仪的检测平台,包括下平台和旋转平台,
所述旋转平台为圆形,旋转平台平行设置在下平台上方,且旋转平台通过中心轴与 下平台连接;所述旋转平台的圆周设置有齿条,下平台上固定设置有电机,电机的输出 轴固定有齿轮,齿轮与旋转平台圆周上的齿条相啮合;旋转平台上还设置有多个用于装 卡光谱分析样品的样品放置夹具,所述样品放置夹具以旋转平台的轴心为圆心成圆形均 匀分布;
所述样品放置夹具由上套筒、下套筒、弹簧和顶紧平台组成,其中上套筒的筒顶面 设置有一圈凸台,上套筒和下套筒通过螺纹同轴连接,所述弹簧的一端固定在下套筒的 底面上,弹簧的另一端与顶紧平台固定。
在上述技术方案中,所述下套筒的底面固定在旋转平台上。
在上述技术方案中,所述样品放置夹具的上套筒的内壁设置有内螺纹,下套筒的外 壁设置有与上套筒相配合的外螺纹。
本实用新型的优点和有益效果为:
本实用新型设置有旋转平台,并在旋转平台上设置有多个装卡光谱分析样品的样品 放置夹具,样品放置夹具可分别放置相同或者不同的待测样品,通过电机控制旋转平台 的旋转可以方便地切换待测样品,从而实现一次性对多种或者多个同种样品的快速高效 光谱分析;同时通过样品放置夹具保证了光谱分析样品上表面的高度是固定的,从而保 证了光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一致性。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型中的样品放置夹具的结构示意图。
其中:1为下平台,2为旋转平台,3为样品放置夹具,4为电机,5为齿轮,3-1为 上套筒,3-2为下套筒,3-3为弹簧,3-4为顶紧平台,3-5为凸台。
具体实施方式
下面结合具体实施例进一步说明本实用新型的技术方案。
本实用新型所涉及的光谱分析仪的检测平台,包括下平台1、旋转平台2,
所述旋转平台2为圆形,旋转平台2平行设置在下平台1上方,且旋转平台2通过 中心轴与下平台1连接,以使旋转平台可以在下平台上旋转;所述旋转平台2的圆周设 置有齿条,下平台1上固定设置有电机4,电机的输出轴固定有齿轮5,齿轮5与旋转平 台2圆周上的齿条相啮合,从而实现电机驱动旋转平台旋转;旋转平台2上还设置有多 个用于装卡光谱分析样品的样品放置夹具3,所述样品放置夹具3以旋转平台的轴心为圆 心成圆形均匀分布;
如图2所示,所述样品放置夹具3由上套筒3-1、下套筒3-2、弹簧3-3和顶紧平台 3-4组成,其中上套筒3-1的筒顶面设置有一圈凸台3-5,上套筒3-1和下套筒3-2通过螺 纹同轴连接(即上套筒3-1的内壁设置有内螺纹,下套筒3-2的外壁设置有与上套筒3-1 相配合的外螺纹),下套筒3-2设置有底面,所述弹簧3-3的一端固定在下套筒3-2的底 面上,弹簧3-3的另一端与顶紧平台3-4固定;下套筒3-2的底面固定在旋转平台2上。 当对光谱分析样品进行装卡时,首先旋出上套筒3-1,然后将光谱分析样品(光谱分析样 品预先加工成小于套筒筒径但大于凸台内径的圆柱形或圆形薄片)装入下套筒3-2中, 然后将上套筒3-1旋入下套筒3-2,由于下套筒3-2的底面设置有弹簧,所以光谱分析样 品会在弹簧的作用下被顶紧平台3-4和套筒3-1的凸台上下夹紧固定;由于上套筒3-1和 下套筒3-2通过螺纹同轴连接后的总高度是固定的,所以保证了光谱分析样品上表面的 高度是固定的,从而保证了光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一致性。
以上对本实用新型做了示例性的描述,应该说明的是,在不脱离本实用新型的核心 的情况下,任何简单的变形、修改或者其他本领域技术人员能够不花费创造性劳动的等 同替换均落入本实用新型的保护范围。
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