[发明专利]用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计有效
| 申请号： | 201580016320.9 | 申请日： | 2015-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN106233103B | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 卡斯滕·第姆;托马斯·赖纳斯;迪特尔·索罗卡;康斯坦丁·雷德瓦尔德;彼得·兰格 | 申请（专利权）人： | LMT光学测量技术（柏林）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;G01J3/50 |
| 代理公司： | 北京卓孚知识产权代理事务所(普通合伙) 11523 | 代理人： | 任宇;刘光明 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 取决于 方向 测量 光学 辐射源 至少 一个 光度学 辐射 测量学 特征 方法 辐射计 | ||
【说明书】：
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