[发明专利]多痕迹量化有效
申请号: | 201580020937.8 | 申请日: | 2015-04-14 |
公开(公告)号: | CN106233138B | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | G·伊沃什夫 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86;G01N30/72 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 曹晓斐 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 痕迹 量化 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于DH科技发展私人贸易有限公司,未经DH科技发展私人贸易有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580020937.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于生物分子的收集、稳定和洗脱的基材和方法
- 下一篇:截止调节器