[发明专利]一次性测量尖端及其使用方法有效
| 申请号： | 201580021584.3 | 申请日： | 2015-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN106255869B | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 迪特尔·威廉·特劳;谭冰文 | 申请（专利权）人： | 新加坡国立大学 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01N21/62;G01N21/03 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 康建峰;吴琼 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一次性 测量 尖端 及其 使用方法 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新加坡国立大学，未经新加坡国立大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580021584.3/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于测量电容值的方法
- 下一篇：力觉传感器及用于其的结构体
