[发明专利]用于相衬X射线成像的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580024299.7 申请日: 2015-05-01
公开(公告)号: CN106659444B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: D.斯图特曼 申请(专利权)人: 约翰斯·霍普金斯大学
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周学斌;陈岚
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 射线 成像 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于使用包括多区段源光栅、分束器光栅和分析器光栅的干涉仪对物体进行相衬成像的方法,其中该物体位于分束器光栅和分析器光栅之间,该方法包括:

将X射线射束指引到多区段源光栅上,其中多区段源光栅的每个区段被偏移预定量;

在单次曝光期间通过平移物体或干涉仪来获得多个图像,其中该多个图像具有不同的干涉仪定相;以及

组合所获得的多个图像以产生物体的相衬图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其中该多区段源光栅具有多于三个的不同区段。

3.根据权利要求1所述的方法,其中以通过物体的不同角度来获取该多个图像。

4.根据权利要求1所述的方法,其中该干涉仪具有1.8m的长度。

5.根据权利要求1所述的方法,其中该分析器光栅具有几十厘米的厚度。

6.根据权利要求1所述的方法,其中使用位于分析器光栅后面的被分隔开1cm的线或狭缝扫描检测器来获得该多个图像。

7.根据权利要求1所述的方法,其中多个图像之间的角度是0.3°。

8.根据权利要求1所述的方法,其中四个图像之间的角度范围是0.9°。

9.根据权利要求1所述的方法,其中分析器光栅包括被堆叠以便覆盖检测器的长度的多个掠射角光栅。

10.一种用于物体的相衬成像的设备,包括:

干涉仪,其包括多区段源光栅、分束器光栅和分析器光栅,其中该物体位于分束器光栅和分析器光栅之间;

X射线源,其可操作用来将X射线射束指引到多区段源光栅上,其中该多区段源光栅的每个区段被偏移预定量;

平移机构,其可操作用来平移物体或干涉仪;

检测器,其可操作用来获得物体在单次曝光期间的多个图像;以及

处理器,其可操作用来组合所获得的多个图像以产生物体的相衬图像。

11.根据权利要求10所述的设备,其中该多区段源光栅具有多于三个的不同区段。

12.根据权利要求10所述的设备,其中以通过物体的不同角度来获取该多个图像。

13.根据权利要求10所述的设备,其中该干涉仪具有1.8m的长度。

14.根据权利要求10所述的设备,其中该分析器光栅具有几十厘米的厚度。

15.根据权利要求10所述的设备,其中该检测器是线或狭缝扫描检测器,并且使用位于分析器光栅后面的被分隔开1cm的线或狭缝扫描检测器来获得该多个图像。

16.根据权利要求10所述的设备,其中多个图像之间的角度是0.3°。

17.根据权利要求10所述的设备,其中四个图像之间的角度范围是0.9°。

18.根据权利要求10所述的设备,其中分析器光栅包括被堆叠以便覆盖检测器的长度的多个掠射角光栅。

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