[发明专利]用于构造空腔的方法以及具有空腔的构件有效

专利信息
申请号: 201580032809.5 申请日: 2015-05-29
公开(公告)号: CN107074529B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: B·施托伊尔;J·托马斯科;S·平特;D·哈贝雷尔;S·安布鲁斯特 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 构造 空腔 方法 以及 具有 构件
【权利要求书】:

1.一种用于在硅衬底(1)内构造空腔的方法,其中,所述方法包括以下步骤:

提供所述硅衬底(1),其中,所述硅衬底(1)的表面(3)相对于所述硅衬底(1)的第一平面(5)具有倾斜角(7),其中,所述第一平面(5)是所述硅衬底(1)的{111}平面;

在所述硅衬底(1)的表面(3)上布置蚀刻掩模(200,201,202,203),

其中,所述蚀刻掩模(200,201,202,203)具有掩模开口(210),该掩模开口具有第一横棱边(211)和与所述第一横棱边(211)平行的第二横棱边(212);

其中,在所述硅衬底(1)的第一平面(5)内布置所述第一横棱边(211);

其中,所述蚀刻掩模(200,201,202,203)具有伸进所述掩模开口(210)内的第一前置结构(220,300);

其中,所述蚀刻掩模(200,201,202,203)具有第一蚀刻开端区域(222);以及

其中,将所述掩模开口(210)的在所述第一蚀刻开端区域(222)以外的所有其他棱边(215)布置为与所述硅衬底(1)的{111}平面基本上平行;

在确定的蚀刻持续时间期间各向异性地蚀刻所述硅衬底(1);

其中,朝向所述硅衬底的{111}方向的蚀刻速率小于朝向其他空间方向的蚀刻速率;

其中,从所述第一蚀刻开端区域(222)出发朝向第一侧蚀方向(8)地侧蚀所述第一前置结构(220,300);

其中,所述第一侧蚀方向(8)定向为与所述掩模开口(210)的第一横棱边(211)和第二横棱边(212)平行;

其中,所述蚀刻持续时间这样确定,使得通过各向异性蚀刻在所述硅衬底(1)内构造空腔(100),所述空腔在所述硅衬底(1)的表面(3)上具有开口(110);

其中,所述空腔(100)的开口(110)在两侧上通过所述掩模开口(210)的第一横棱边(211)和第二横棱边(212)限界,并且在另一侧上通过与所述第一和第二横棱边(211,212)垂直的第一纵棱边(113)限界,该第一纵棱边通过所述第一前置结构(220)的侧蚀来制造;以及

其中,所述蚀刻持续时间还这样确定,使得在该蚀刻持续时间结束之后,所述硅衬底(1)的第一平面(5)基本露出并且构成所述空腔(100)的底面(115)。

2.根据权利要求1所述的方法,

其中,所述蚀刻掩模(200,201,202,203)具有伸进所述掩模开口(210)内的第二前置结构(240,305);

其中,所述蚀刻掩模(200,201,202,203)具有第二蚀刻开端区域(242);

其中,通过所述硅衬底(1)的各向异性蚀刻,从所述第二蚀刻开端区域(242)出发,这样朝向与第一侧蚀方向(8)相反的第二侧蚀方向(9)地侧蚀所述第二前置结构(240,305),使得在蚀刻持续时间结束之后构成限界所述空腔(100)的开口(110)的第二纵棱边(114),所述第二纵棱边布置为平行于所述第一纵棱边(113)。

3.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其中,所述第一蚀刻开端区域(222)具有蚀刻开始棱边(223),将该蚀刻开始棱边布置为与所述硅衬底(1)的{111}平面不平行。

4.根据权利要求1或2所述的方法,

其中,所述第一前置结构(220)具有三角形基准结构(260);

其中,在所述三角形基准结构(260)的第一侧(261)上构造所述第一纵棱边(113);以及

其中,所述三角形基准结构(260)的第二侧(262)和第三侧(263)布置为与所述硅衬底(1)的{111}平面基本上平行。

5.根据权利要求4所述的方法,

所述第一前置结构(220)具有第一延滞结构(270,400),所述第一延滞结构布置在所述三角形基准结构(260)的与所述第一侧(261)对置的第一角点(267)上。

6.根据权利要求5所述的方法,

其中,所述第一延滞结构(400)将所述三角形基准结构(260)的第一角点(267)与所述第一横棱边(211)和/或所述第二横棱边(212)连接。

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