[发明专利]测试插座组件和相关方法有效

专利信息
申请号: 201580033208.6 申请日: 2015-06-18
公开(公告)号: CN106716143B 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: V.特雷伯格斯;M.纳尔逊;J.姆罗茨科夫斯基 申请(专利权)人: 艾科塞拉公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 成城;傅永霄
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 测试 插座 组件 相关 方法
【说明书】:

插座组件包括壳体,其具有在其中的一个或多个弹簧探针。插座组件还包括引线框架组件,其具有一个或多个悬臂构件,且引线框架组件具有微波结构和柔性接地平面。插座组件还包括邻近引线框架组件的弹性间隔件,弹性间隔件具有接收通过其的弹簧探针的一个或多个孔。

相关申请的交叉引用

本申请要求2014年6月20日提交的美国临时专利申请No. 62/015,180的优先权,该文献的全部内容特此通过引用并入本文。

技术领域

测试接触器安装组件和相关方法。

背景技术

测试接触器被用在印刷电路板上以测试半导体装置的各种参数和/或部件。电子装置变得更小但是更强大,从而导致拥挤且复杂的电路板。例如,现代汽车针对碰撞避免、停车辅助、自动驾驶、巡航控制等使用雷达装备。在这种系统中使用的无线电频率通常是77GHz(W-频段)。下一代IC将把操作频率推向甚至更高的水平。需要测试在这些频率下操作的半导体装置,但是由于末端(extreme)传输线阻抗不匹配,因此现有的测试接触器技术不能在W-频段中操作。

发明内容

插座组件包括壳体,其具有在其中的一个或多个弹簧探针。插座组件还包括引线框架(leadframe)组件,其具有一个或多个悬臂构件,且引线框架组件具有微波结构和柔性接地平面。插座组件还包括邻近引线框架组件的弹性间隔件,弹性间隔件具有接收通过其的弹簧探针的一个或多个孔。

在一个或多个实施例中,方法包括将测试下的装置安置在插座组件中,该插座组件包括:具有在其中的一个或多个弹簧探针的壳体;包括一个或多个悬臂构件的引线框架组件,该引线框架组件具有阻抗受控的微波结构和柔性接地平面,引线框架组件安置在壳体内;和邻近引线框架组件的弹性间隔件,弹性间隔件具有接收通过其的弹簧探针的一个或多个孔。该方法还包括使测试下的装置与弹簧探针和微波结构接触,且使测试下的装置与悬臂构件接触,并且使悬臂构件弯曲和偏转。

本发明的这些和其它实施例、方面、优势和特征将在之后的描述中部分阐述,且通过参考本发明的以下描述和参考的附图或者通过本发明的实践将对本领域技术人员而言变得显而易见。本发明的方面、优势和特征借助于具体地在所附权利要求及其等价物中指出的器械、程序和组合实现和获得。

附图说明

图1示出如在一个或多个实施例中建构的测试插座组件的分解透视图。

图2示出如在一个或多个实施例中建构的测试插座组件的分解横截面视图。

图3示出如在一个或多个实施例中建构的测试插座组件的一部分的透视图。

图4示出如在一个或多个实施例中建构的测试插座组件的横截面视图。

图5A示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的视图。

图5B示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的一部分的视图。

图6示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的透视图。

图7示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的一部分的俯视图。

图8示出如在一个或多个实施例中建构的测试下的装置的一部分的俯视图。

图9示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的一部分的俯视图。

图10示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的一部分的俯视图。

图11A示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的悬臂构件的透视图。

图11B示出如在一个或多个实施例中建构的引线框架组件的悬臂构件的横截面视图。

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